高精度三維形貌掃瞄器是一種用於信息科學與系統科學領域的計量儀器,於2019年12月18日啟用。
基本介紹
- 中文名:高精度三維形貌掃瞄器
- 產地:德國
- 學科領域:信息科學與系統科學
- 啟用日期:2019年12月18日
- 所屬類別:計量儀器 > 長度計量儀器
高精度三維形貌掃瞄器是一種用於信息科學與系統科學領域的計量儀器,於2019年12月18日啟用。
高精度三維形貌掃瞄器是一種用於信息科學與系統科學領域的計量儀器,於2019年12月18日啟用。技術指標掃描範圍300*230mm,特徵精度:±10μm。1主要功能精密三維點雲掃描。1...
三維白光干涉形貌儀是一種用於數學領域的計量儀器,於2016年07月01日啟用。技術指標 XYZ行程:200mmX200mmX100mmRMS重複精度:0.005nm垂直掃描範圍:0-20mm垂直掃描解析度:1nm最大縱向掃描速度:96um/secRa測量精度:≤0.1nm反射率要求:0.05%-100%顯微鏡鏡頭:2.75X,10X,50X,100X。主要功能 非接觸式形貌...
表面三維形貌分析儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2017年1月1日啟用。技術指標 1、解析度:二維解析度要求達到0.12微米。垂直解析度0.01微米。 2、雷射光源:採用405nm短波長半導體雷射,壽命≥10000小時;雙光路共焦系統。 3、放大倍數108倍——17000倍。 4、精度要求:XY方向測量準確度要求:測量值的±2%以內...
三維形貌與測厚儀 三維形貌與測厚儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2014年11月20日啟用。技術指標 . 顯微鏡:Multimode SPM掃描頭橫向(X-Y)範圍40μm×40μm豎直(Z)範圍20μm2. 噪聲:垂直(Z)方向上的RMS值<0.3埃 3. 樣品大小:直徑≤15mm厚度≤5mm。主要功能 微觀形貌。
測量費用適中;探頭不易磨損。測量速度快;適用於待測物體幾何形狀的全尺寸三維數位化檢測,三維掃瞄器具有工業級高精度和高穩定性,在嚴苛的環境下仍可提供高精度測量數據。產品優勢 隨著計算機機器視覺這一新興學科的興起和發展,用非接觸的光電方法對曲面的三維形貌進行快速測量已成為大趨勢。這種非接觸式測量不僅避免...
自動變焦三維表面形貌儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的分析儀器,於2014年5月8日啟用。技術指標 位移範圍(X、Y、Z軸):100×100×100mm 樣品表面結構:表面形貌Ra>10-15nm,Lc=2µm 最大掃描面積:10000mm2 最小測量粗糙度(Ra):30nm。主要功能 表面形貌測量、粗糙度測量、表面紋理測量、體積測量...
三維光干涉形貌儀是一種用於機械工程領域的計量儀器,於2016年06月12日啟用。技術指標 視場:標準配置:0.04-16mm,跟物鏡和放大倍率有關,運用圖像拼接技術可以得到更大範圍 視場放大倍率:高質量分立放大倍率鏡頭:2.5X,10X,50X(標配) 光源:均勻成像,高效率,特殊設計長壽命白光LED 物鏡座標配:可快速裝卸單...
三維非接觸式表面形貌儀 三維非接觸式表面形貌儀是一種用於材料科學、礦山工程技術、冶金工程技術、機械工程領域的工藝試驗儀器,於2007年01月06日啟用。技術指標 50X、10X、2.5X解析度:752X480像素、1000X1000像素、Z軸方向解析度5nm。主要功能 機械測量。
光學三維密集點雲測量系統 XJTUOM三維光學面掃描系統已更名為XTOM-MATRIX三維掃瞄器。XJTUOM型光學三維密集點雲測量系統與傳統的三坐標測量儀和雷射三維掃瞄器相比,是一種高速高精度的三維掃描測量設備,系統具有速度快、精度高、易操作、可移動等特點,在物體的單面測量負面、測量精度等指標達到了國際先進水平,系統的...
三維光學干涉形貌儀 三維光學干涉形貌儀是一種用於航空、航天科學技術領域的物理性能測試儀器,於2007年10月17日啟用。技術指標 高度解析度:0.1 A。主要功能 表面微觀形貌測試。
300°;水平視野:360° 垂直解析度:0.009°(360°時為40,960個三維像素) 水平解析度:0.009°(360°時為40,960個三維像素) 集成彩色相機;集成高度感測器,隨時記錄高程數據,感知高度變化;集成指南針,記錄儀器方向的方位角度,提升自動拼接精度;集成GPS,能在接收到GPS衛星信號的情況下,記錄掃瞄器的經緯...
《基於MEMS雙軸反射鏡的三維形貌掃描測量技術研究》是依託清華大學,由張弛擔任項目負責人的青年科學基金項目。項目摘要 本項目提出一種基於MEMS雙軸反射鏡的三維形貌測量新方法,採用MEMS技術研製帶壓阻感測器的電磁型雙軸反射鏡,探索低電壓驅動下的大角度二維掃描技術和偏轉角的高精度檢測技術;同時結合雷射測量技術,開展...
攜帶型三維雷射掃瞄器通過雷射探頭的自動旋轉進行連續的三維空間無死角掃描,快速獲取待測物體的空間三維信息、獲取點雲數據,並經過基於SLAM算法的軟體自動處理後,得到掃描區的三維點雲數據,生成兼容其他第三方軟體的點雲數據格式,從而在遙感測繪、礦上、交通運輸、公共設施、自然資源管理等領域得到很好的套用。
本項目圍繞大尺寸表面三維形貌視覺測量,從理論方法、測量原理及關鍵技術等方面展開系統深入研究,主要研究內容為:基於雙目立體視覺原理和以靶標為中介的測量模式,建立大尺寸表面三維視覺測量模型;提出全局統一方法,通過中介靶標進行局部三維掃描數據到全局坐標系的轉換,無須貼上標記點,不依賴運動平台;提出基於一維靶...
4. 搭建了物體表面三維形貌動態視覺測量系統原理樣機,進行了驗證和實驗,實驗結果驗證了系統原理樣機的有效性。實驗證明,在5m*5m*5m的測量系統最大範圍內,系統樣機可以達到0.14 mm的測量精度 本項目研究期間共發表文章17篇,其中SCI檢索10篇,EI檢索6篇;共申請專利6項,已授權2項;培養博士研究生2名,碩士研...
分別實驗驗證了粒子群最佳化、生物地理學最佳化和人工蟻群最佳化等最佳化方法,證明了該類方法可有效提高數據場拼接精度和算法穩定性。此外,研究了基於三維數據場特徵點和圖像特徵點對應的三維點雲數據場和彩色紋理數據場的拼接方法。本課題改進實驗室已有的高解析度雷射三維彩色數位化掃瞄器,重點提出組合光帶輪廓線多邊形表示和...
項目實現了基於光學菲涅爾衍射模糊測度的景物三維形貌動態重構、基於離焦/衍射模糊的動態精準定位,為微納米科學技術研究提供一種有效的高精度三維視覺動態觀測方法。最後,本項目的研究成果均已經得到了充分的實驗驗證:納米柵格形貌恢復實驗和原子力顯微鏡的懸臂樑形變恢復實驗驗證了本項目提出的靜態固定成像波長時形貌恢復...
集成了小型特徵投射終端、雙目攝像終端及平面反射鏡組,研製了新型外置攝像機柔性鏡像雙目感測器測頭; (4)、面向視覺測量的高精度需求,提出了面向三維測量誤差最佳化的攝像機模型參數再最佳化及精度評價方法,以三維測量坐標系中已知特徵點與模型特徵點空間距離最小為目標函式,有效地提高了攝像機的標定精度和測量精度; ...
雷射視覺測量將雷射技術與計算機技術充分結合具有信息量大、測量效率高、精度好、非接觸以及自動化程度高等特點,被廣泛用於物體表面形貌、空間位置測量等許多線上測量的場合,因此將雷射視覺檢測技術用於管道內表面腐蝕和瑕疵的精確三維測量,並基於測量三維點進行缺陷三維重構可視化是當今管道內表面檢測技術的發展趨勢。本...
採用相位去包裹技術並結合光纖干涉條紋投射模型,實現了物體三維形貌信息的高精度測量。主要研究內容如下: 1、提出基於M-Z光纖干涉儀結構和楊氏雙孔干涉理論在小視場範圍內投射高密度條紋結構光方案,建立光纖干涉條紋投射系統的數學模型,通過仿真研究系統參數對投射條紋性質的影響;構建光纖干涉條紋投射三維形貌測量的...
《基於裂隙岩體裂隙面三維形貌參數的滲流本構關係研究》是依託重慶大學,由張振宇擔任項目負責人的青年科學基金項目。中文摘要 裂隙岩體裂隙面粗糙度、接觸面積、法向及切向變形等因素對裂隙岩體的滲流規律有著重大的影響。在裂隙岩體滲流-應力耦合特性及機理上,目前大多研究都是用線性的裂隙面形貌參數來表征裂隙面三維的...
冷軋帶鋼的表面形貌是在冷軋平整過程中由軋輥毛化表面轉印形成的,對其衝壓、摩擦和塗鍍性能有重要影響。為掌握冷軋平整界面三維表面形貌轉印過程的特徵與規律,本研究將首先採用圖像拼接與匹準的技術完成軋輥、帶鋼接觸位置三維形貌的對應性測量和比較,結合納米壓痕、劃痕實驗,定量描述以微凸體壓入和犁溝耦合作用為基礎...
結構面表面形態是控制岩體滲流力學特性的重要因素,地下水與結構面的相互耦合作用直接影響著岩體的滲流力學特性,關於結構面三維形貌特徵的合理表征方法及其與滲流力學特性間的定量關係還需要進一步研究。本課題基於三維高精度雷射掃描技術和3D列印技術,對結構面的三維形貌特徵進行精細化測定和模擬,提出改進的統計學參數來...
4. 德國breukmann公司高精度攜帶型三維掃瞄器國內總代理。5. 其它多個國際知名品牌的3D印表機、三維掃瞄器、 逆向軟體在國內的一級代理。平台運營與合作 公司是北京工業設計促進中心DRC逆向工程與快速成型平台運營商、首都科技條件平台工業設計領域平台主要承擔商,中國工業設計技術服務聯盟主要籌建單位及聯盟秘書處常駐機構...
9.高溫高密度電漿物理重點實驗室:數字全息顯微術實現泡沫微觀形貌和孔徑分布的測定研究(514800302ZW0803),2003.5-2005.5,經費 16 萬元.10.橫向課題:雷射粒度測試系列儀器開發研製,經費 100 多萬元.發明專利 葛寶臻,孫宇臣,魏耀林,呂且妮.雷射三維彩色掃描數位化方法及數位化儀,葛寶臻,魏永傑,魏耀林.共軸雙探測...
掃描電子顯微鏡景深大,能獲得三維圖像,二次電子圖像解析度小於10納米,能用來對樣品的形貌、成分、結晶學及其他性質進行觀察和分析。樣品不需專門製備,原始狀況不會受到破壞。電子探針顯微分析儀與掃描電子顯微鏡類似,但樣品需製成薄片或光片,解析度為1微米。主要用途是對礦物作定量化學分析,研究化學組成和微量元素...
[1] 360度環境形貌自旋雷射掃描方法 [2] 一種基於紅外測溫和聲音篩查的防疫機器人及檢測方法 [3] 一種自旋轉十字線雷射掃描的環境三維形貌感知裝置 [4] 一種能夠調整雷射束與水平面夾角的雷射掃瞄器 [5] 一種自旋轉雷射發生器 [6] 一種無人駕駛設備用智慧型化空間定位和環境感知裝置 [7] 一種汽車後視鏡用...
掃描電子顯微鏡景深大,能獲得三維圖像,二次電子圖像解析度小於10納米,能用來對樣品的形貌、成分、結晶學及其他性質進行觀察和分析。樣品不需專門製備,原始狀況不會受到破壞。電子探針顯微分析儀與掃描電子顯微鏡類似,但樣品需製成薄片或光片,解析度為1微米。主要用途是對礦物作定量化學分析,研究化學組成和微量元素...
30. 國家自然科學基金“面上”:基於光譜色散線掃描的光纖干涉納米表面三維線上測量原理與技術研究,2007-01-01~2009-12-31,參加 31. 留學回國人員基金:基於Wollaston稜鏡陣列的新型偏振型成像光譜儀,2006-11-01~2008-12-01,參加 光學三維測量:張旭, 邵雙運, 祝祥, 宋志軍. 光學三維掃瞄器光強傳遞函式的...