三維光學測量系統是採用光束進行測量的系統，具有非接觸式的優點。這種系統也稱三維雷射掃瞄器，根據感測方法不同，分三維雷射掃瞄器，照相式三維掃瞄器，和CT斷層掃瞄器等。
基本介紹
- 中文名：三維光學測量系統
- 測量費用：較高
- 探頭狀況：易磨損
- 測量速度：慢
產品簡介,產品優勢,設備類型,
產品簡介
測量費用較高；探頭易磨損。測量速度慢；檢測一些內部元件有先天的限制，故欲求得物體真實外形則需要對探頭半徑進行補償，因此可能會導致修正誤差的問題；接觸探頭在測量時，接觸探頭的力將使探頭尖端部分與被測件之間發生局部變形而影響測量值的實際讀數；由於探頭觸發機構的慣性及時間延遲而使探頭產生超越現象，趨近速度會產生動態誤差。
產品優勢
隨著計算機機器視覺這一新興學科的興起和發展，用非接觸的光電方法對曲面的三維形貌進行快速測量已成為大趨勢。這種非接觸式測量不僅避免了接觸測量中需要對測頭半徑加以補償所帶來的麻煩，而且可以實現對各類表面進行高速三維掃描。
採用非接觸式三維掃瞄器因其接觸性，對物體表面不會有損傷，同時相比接觸式的具有速度快，容易操作等特徵，三維雷射掃瞄器可以達到5000－10000點/秒的速度，而照相式三維掃瞄器則採用面光，速度更是達到幾秒鐘百萬個測量點，套用與實時掃描，工業檢測具有很好的優勢。
三維掃瞄器按照其原理分為2類，一種是“照相式”，一種是“雷射式”，兩者都是非接觸式，也就是說，在掃描的時候，這兩種設備均不需要與被測物體接觸。
“雷射式”掃瞄器屬於較早的產品，由掃瞄器發出一束雷射光帶，光帶照射到被測物體上並在被測物體上移動時，就可以採集出物體的實際形狀。“雷射式”掃瞄器一般要配備關節臂.
“照相式”掃瞄器是針對工業產品涉及領域的新一代掃瞄器，與傳統的雷射掃瞄器和三座標測量系統比較，其測量速度提高了數十倍。由於有效的控制了整合誤差，整體測量精度也大大提高。其採用可見光將特定的光柵條紋投影到測量工作表面，藉助兩個高解析度CCD數位相機對光柵干涉條紋進行拍照，利用光學拍照定位技術和光柵測量原理，可在極短時間內獲得複雜工作表面的完整點雲。其獨特的流動式設計和不同視角點雲的自動拼合技術使掃描不需要藉助於工具機的驅動，掃描範圍可達12M，而掃描大型工件則變得高效、輕鬆和容易。其高質量的完美掃描點雲可用於汽車製造業中的產品開發、逆向工程、快速成型、質量控制，甚至可實現直接加工。
設備類型
主要儀器表現為：二次元、工具顯微鏡、光學影像測量儀、光學影像投影儀、三次元、三維雷射抄數機、三維結構光抄數機、三維結構光抄數儀、逆向工程測量儀器等。
非接觸檢測技術的套用
非接觸檢測技術在機械製造行業中，為了使機加工的產品能達到設計精度和質量要求，除了傳統的物理計量與檢測實現方法，可以運用高性能計算機及軟體技術、光學、光學成像、聲學與機器動作多種混合技術實現的邏輯計量與檢測，我們習慣將這些複雜的計量與檢測技術稱之為非接觸計量與檢測技術。我公司將這些非接觸計量與檢測技術套用到為客戶定製的計量與檢測工具和設備之中，在實際項目中取得了滿意的預期效果。我們的技術實現方式如：
1） 光電檢測技術的套用
2） 輻射檢測技術的套用
3） 電量檢測技術的套用
4） 阻抗檢測技術的套用
5） 超聲檢測技術的套用
6） 特殊複雜感測技術集成套用
7） 複雜的物體面測量技術套用
工業檢測系統設計
我們能根據客戶的需求不斷的為客戶提供性價比好的檢測系統。加快客戶產品投放市場的進度，同時也提高客戶產品在市場的競爭優勢。包括以下設計內容：
1） 數據處理：數據採集、數據分析、數據傳輸
2） 模具設計，QC質量檢測系統設計，高精密儀器的精密數據的採集和逆向工程。
工業檢測系統和工業自動控制系統改造
在實際工作中，有的設備需要為了提高加工精度或增加其他所需的檢測功能。我們也能提供相映的技術服務，使之具有更高自動化程度和自動計量與檢測功能。
非接觸測試與工業自動控制系統設計
我們將工業測試系統與工業自動控制有機的結合。從可程式序控制器套用設計（PLC）、非接觸檢測系統到中央控制系統設計，最終為提高機械設備的加工和自動校驗精度、實現智慧型化控制、提高成品率、縮短交貨周期、降低生產成本，全面提升企業的市場競爭力。
