IOM(IOM系列三維光學密集點雲測量系統)

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IOM三維光學密集點雲測量系統是智泰生產的一款產品,它與傳統的三坐標測量儀和雷射三維掃瞄器相比,是一種高速高精度的三維掃描測量設

基本介紹

  • 中文名:IOM
  • 全名:IOM三維光學密集點雲測量系統
  • 生產公司:智泰
  • 性質:一款產品
系統介紹,產品特點,技術參數,套用領域,

系統介紹

產系統具有速度快、精度高、易操作、可移動等特點,系統的軟體和硬體可以根據需要專門進行開發和設計,技術實用性強。廣泛適用於各種需求三維數據的行業,如汽車工業、飛機工業、機車外殼及內飾、家電,雕塑等。

產品特點

1、採用國際最先進的外差式多頻相移三維光學測量技術,與傳統的格雷碼加相移方法相比,測量精度更高,單次測量幅面更大(從150mm到3米)、抗干擾能力強、受被測工件表面明暗影響小,工件一般不需要噴顯影劑,而且能夠測量表面劇烈變化的工件。
2、一機多用,單幅測量幅面從150mm到3000mm,可以測量幾毫米到幾十米的工件和物體。一台測量系統的可同時掃描測量小型、中型、大型工件。
3、面掃描、測量數據密集。單幅掃描一次獲得130萬-660萬的點雲,點雲的點間距為0.04mm-0.67mm,海量數據測量和處理,測量精度從0.008mm到0.05mm。
4、移動攜帶型測量。與傳統的三坐標測量機、雷射抄數機相比,突出特點為移動攜帶型操作,流動式測量,不需要固定的大型操作台,移動式測量,可以掃描測量幾毫米到幾十米的產品工件和物體。
5、強大的自動拼接和重疊面自動刪除功能。功能強大的多次掃描自動拼接功能,提高工件掃描效率80%以上,拼接精度更高,多幅拼接自動化完成,自動刪除重疊面。可以與工業數字近景三維攝影測量系統配合使用提高拼接精度。
6、測量掃描速度快。單幅(最大3000mm幅面)測量速度為3~6秒。
7、工件不需要噴顯影劑、更適合線上檢測。採用外差式多頻相移技術,工件一般不需要噴顯影劑就可直接測量,適合批量生產的現場檢測,適應性更廣。
8、雷射指示器測距。方便操作測量,提高測量效率。
9、提供多種標定板。標定板和十字架標定採用編碼標誌點和亞像素圖像識別技術,標定精度更高更準確。標定板幅面從150mm*110mm到 3000mm*3000mm。
10、系統採用工業化產品設計。所有硬體設備集成一起,一體化設計,性能穩定可靠。軟體一體化集中控制所有硬體設備,包括雷射指示器、工業相機、光柵投射器等。
11、長期升級和技術支持。雄厚的技術力量,保證系統的長期升級更新和技術支持。

技術參數

具體型號
IOM400
測量行程(mm)
400*300
單幅面(mm)
150-3000
點去間距(mm)
0.04-0.67

套用領域

廣泛套用於汽車工業、飛機工業、機械製造、模具設計、家電等行業的逆向設計、產品質量檢測、尺寸檢測、變形設計等。

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