JDS三維掃瞄器採用國際最先進的三維光學測量技術,達到國外最新產品的技術水平。
:JDSACN系統與同類產品相比的優勢：
與傳統的格雷碼加相移方法相比，測量精度更高，單次測量幅面更大（從50mm到3米）、抗干擾能力強、受被測工件表面明暗影響小。
國際少有同時自主研發出工業攝影測量系統和三維光學掃描系統兩套系統,都已申請專利. 強大的全自主軟體系統，所有程式代碼都有研發團隊進行編寫，可完全滿足客戶的制定要求.
簡潔的操作界面,全程一健式操作,拼接過程中，實時顯示公共標誌點，真正的智慧型拼接,不需第三方軟體進行處理, 一機多用，單幅測量幅面從50mm到3米，可以測量幾毫米到幾十米的工件和物體。
一台測量系統可同時掃描測量小型、中型、大型工件。 系統配備強大後處理功能，可以快速、高精度、自動化完成多幅點雲的精確匹配和融合，點雲數據量小而細節不喪失.滿足逆向設計和產品線上質量檢測的不同需求。 全自動智慧型拼接,精度在國際領先，拼接無分層,配備全局誤差控制系統; 也可以與JDSACN-PH工業近景攝影測量系統配合使用，能完成超大物體的測體,精度更高。 非接觸式掃描，採用先進結構光編碼技術, 避免對物體表面的接觸, 可以測量柔軟的物體, 對操作者和測量物不會產生任何影響。 掃描速度快，能夠在4秒內完成單個幅面1200mm到30MM的測量,獲取百萬個掃描點, 測量點數據非常規則，測量數據基本無雜點。 適應面廣，可以測量大中小各種規格物體 系統綜合了大中小三種規格測量系統，既可測量大至汽車車身和客運飛機樣的物體，又可測至小至硬幣般的物體, 測量物體規格不限。 掃描點雲密度可調：針對不同的測量物體要求，系統可自動對點雲密度進行調整，獲取適合的點雲數據。 對測量環境要求低，可以在室內正常環境或者野外工作, 無需暗室。 測量範圍大，測量尺寸範圍：3毫米~100米 數據接口豐富
支持 ASC, IGES, OBJ, STL, VRML, DXF, MDL, SMF等數據格式, 可以與Pro/E, UG, Imageware, Geomagic , AutoCAD等多種設計軟體接口。
20.長期升級和技術支持,全自主研發，以保證系統的長期升級更新和技術支持
