三維光學密集點雲掃描系統

三維光學密集點雲掃描系統與傳統的三坐標測量儀和雷射三維掃瞄器相比，是一種高速高精度的三維掃描測量設備，系統具有速度快、精度高、易操作、可移動等特點，系統的軟體和硬體可以根據需要專門進行開發和設計，技術實用性強，廣泛適用於各種需求三維數據的行業，如汽車工業、飛機工業、機車外殼及內飾、家電，雕塑等。

基本信息

品牌：3DFAMILY型號：0M15000M400

操作方式：自動
功能：三維測量

　　

基本特點

1、採用國際最先進的外差式多頻相移三維光學測量技術，與傳統的格雷碼加相移方法相比，測量精度更高，單次測量幅面更大（從150mm到3米）、抗干擾能力強、受被測工件表面明暗影響小，工件一般不需要噴顯影劑，而且能夠測量表面劇烈變化的工件。
2、一機多用，單幅測量幅面從150mm到3000mm，可以測量幾毫米到幾十米的工件和物體。一台測量系統的可同時掃描測量小型、中型、大型工件。
3、面掃描、測量數據密集。單幅掃描一次獲得130萬-660萬的點雲，點雲的點間距為0.04mm-0.67mm，海量數據測量和處理，測量精度從0.008mm到0.05mm。
4、移動攜帶型測量。與傳統的三坐標測量機、雷射抄數機相比，突出特點為移動攜帶型操作，流動式測量，不需要固定的大型操作台，移動式測量，可以掃描測量幾毫米到幾十米的產品工件和物體。
5、強大的自動拼接和重疊面自動刪除功能。功能強大的多次掃描自動拼接功能，提高工件掃描效率80%以上，拼接精度更高，多幅拼接自動化完成，自動刪除重疊面。可以與工業數字近景三維攝影測量系統配合使用提高拼接精度。
6、測量掃描速度快。單幅（最大3000mm幅面）測量速度為3~6秒。
7、工件不需要噴顯影劑、更適合線上檢測。採用外差式多頻相移技術，工件一般不需要噴顯影劑就可直接測量，適合批量生產的現場檢測，適應性更廣。
8、雷射指示器測距。方便操作測量，提高測量效率。
9、提供多種標定板。標定板和十字架標定採用編碼標誌點和亞像素圖像識別技術，標定精度更高更準確。標定板幅面從150mm*110mm到3000mm*3000mm。
10、系統採用工業化產品設計。所有硬體設備集成一起，一體化設計，性能穩定可靠。軟體一體化集中控制所有硬體設備，包括雷射指示器、工業相機、光柵投射器等。
11、長期升級和技術支持。雄厚的技術力量，保證系統的長期升級更新和技術支持。

技術參數

具體型號OM1500
測量行程（mm）1500×2000
單幅面（mm）150-3000
點雲間距（mm）0.04-0.67
套用領域

　　

逆向設計：快速獲取零件的曲麵點雲數據，建立三維數模，達到快速設計產品目的。
產品檢測：生產線產品質量控制和形位尺寸檢測，特別適合複雜曲面的檢測，可以檢測鑄件、鍛件、衝壓件、模具、注塑件、木製品等產品。
其他套用：文物掃描和三維顯示、牙齒及畸齒矯正、整容及上頜面手術。
附屬檔案：工業相機、升降支架、計算機等