掃描形貌測量顯微鏡

掃描形貌測量顯微鏡是一種用於材料科學、機械工程領域的工藝試驗儀器，於2013年12月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：掃描形貌測量顯微鏡
• 產地：日本
• 學科領域：材料科學、機械工程
• 啟用日期：2013年12月1日
• 所屬類別：工藝試驗儀器 > 加工工藝實驗設備 > 機加工工藝實驗設備

技術指標

最大倍率20000。

主要功能

表面形貌測量。