電子掃描探針顯微鏡

電子掃描探針顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2003年12月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：電子掃描探針顯微鏡
• 產地：中國
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2003年12月1日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡

技術指標

x,y方向解析度高於0.01nm, 縱向解析度高於0.05nm. 可以做原子分辨的成像。

主要功能

測試納米材料樣品形貌、粒度及表面粗糙度等。