掃描探測顯微鏡

掃描探測顯微鏡是一種用於測繪科學技術、材料科學領域的分析儀器，於2015年8月20日啟用。

基本介紹

• 中文名：掃描探測顯微鏡
• 產地：美國
• 學科領域：測繪科學技術、材料科學
• 啟用日期：2015年8月20日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡

技術指標

1.橫向、縱向分開率都優於1A 2.系統隔振頻率低於1H。

主要功能

原子力顯微鏡（Tapping模式）；磁力顯微；局域彈性性能測量（力調製模式）；STM（掃描隧道顯微鏡）等領域。