掃描電子顯微鏡系統

掃描電子顯微鏡系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2015年10月26日啟用。

基本介紹

• 中文名：掃描電子顯微鏡系統
• 產地：德國
• 學科領域：物理學、材料科學
• 啟用日期：2015年10月26日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡

技術指標

解析度：3.0nm@30KV(SE and W),4.0nm@30KV(VP with BSD)。

主要功能

觀察掃描各種金屬材料及產品的顯微形貌，可進行失效分析，能譜分析。