電子顯微鏡系統是一種用於生物學、農學、食品科學技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2005年12月12日啟用。
基本介紹
- 中文名:電子顯微鏡系統
- 產地:日本
- 學科領域:生物學、農學、食品科學技術、環境科學技術及資源科學技術
- 啟用日期:2005年12月12日
- 所屬類別:分析儀器 > 電子光學儀器
電子顯微鏡系統是一種用於生物學、農學、食品科學技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2005年12月12日啟用。
電子顯微鏡系統是一種用於生物學、農學、食品科學技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2005年12月12日啟用。技術指標 1.透射電鏡技術指標: 解析度:0.2nm (晶格像) 加速電壓:40kV ~ 120kV 放大倍率: 連續放大模式:...
電子顯微鏡的放大倍數最高可達近百萬倍、由照明系統、成像系統、真空系統、記錄系統、電源系統5部分構成,如果細分的話:主體部分是電子透鏡和顯像記錄系統,由置於真空中的電子槍、聚光鏡、物樣室、 物鏡、衍射鏡、中間鏡、 投影鏡、螢光...
像差矯正低能電子/光發射電子顯微鏡系統是一種用於物理學領域的分析儀器,於2018年1月12日啟用。技術指標 常規LEEM空間解析度: 6 nm;常規PEEM空間解析度: 8 nm @汞燈光源;AC-LEEM空間解析度: 3 nm;AC-PEEM空間解析度: 4 nm @...
掃描電子顯微鏡系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於2015年10月26日啟用。技術指標 解析度:3.0nm@30KV(SE and W),4.0nm@30KV(VP with BSD)。主要功能 觀察掃描各種金屬材料及產品的顯微形貌,可進行失效分析,能譜...
高分辨透射電子顯微鏡系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2015年11月10日啟用。中文名 高分辨透射電子顯微鏡系統 產地 日本 學科領域 材料科學 啟用日期 2015年11月10日 所屬類別 分析儀器 > 電子光學儀器 > 透射電鏡 ...
原子分辨透射電子顯微鏡系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於2017年12月21日啟用。技術指標 STEM HAADF解析度:63pm(300kv),105pm(200kv),105pm(160kv),136pm(80kv),192pm(60kv),314pm(40kv). TEM...
場發射電子顯微鏡系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2015年12月24日啟用。技術指標 200KV場發射透射電子顯微鏡,配備聚光鏡球差校正系統,能譜分析,STEM功能等。主要功能 解析度達原子水平的形貌分析;結合EDS,可做元素的線掃、面...
高分辨場發射掃描電子顯微鏡系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年12月21日啟用。技術指標 二次電子解析度≤0.6nm(15kV);二次電子解析度≤0.9nm(1kV)。主要功能 圖像解析度高放大倍率大、對樣品沒有損傷、試樣製備簡單、...
場發射環境掃描電子顯微鏡系統是一種用於化學、基礎醫學、材料科學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2007年12月28日啟用。技術指標 解析度高真空30KV優於2.0nm/低真空時30KV優於3.5nm;環境真空:30KV優於2.0nm;對樣品...
場發射透射電子顯微鏡系統是一種用於物理學、化學、材料科學、電子與通信技術領域的分析儀器,於2007年5月4日啟用。技術指標 TEM形貌像,HRTEM晶格像;選區電子衍射花樣SED,STEM(HAADF)掃描透射像,微區成分分析(點、線、面) 點...
以ULTRAPLUS掃描電子顯微鏡為例,環境條件要求如下:溫度保持在21~25℃,相對濕度小於65%,磁場強度小於3×10T,噪聲強度小於65dB,獨立地線的接地電阻小於0.1Ω。檢查光學系統 電子光學系統是由電子槍、電磁透鏡、掃描線圈組成的,也是...
微納操縱及原位光電分析掃描電子顯微鏡系統是一種用於材料科學、機械工程領域的分析儀器,於2015年11月25日啟用。技術指標 高真空模式:30kV時優於1.0nm(SE),1kV時優於3.0nm(SE),30kV時優於2.5nm(BSE);;低真空模式:...
掃描電子顯微鏡測試系統 掃描電子顯微鏡測試系統是一種用於生物學學科領域的儀器,於2012年3月1日啟用。技術指標 二次電子像解析度:0.8nm @ 15kV;放大倍率:12~1 000 000倍。服務內容 表面形貌分析;微區成分分析。
透射電子顯微鏡電學測量系統是一種用於化學工程領域的科學儀器,於2016年6月19日啟用。技術指標 電流測量量程範圍: 1nA -20mA,電流解析度:10fA。電壓輸出範圍:± 10V 、150V 。自動進行電流-電壓(I-V)測量、電流-時間(I-t)...
透射電子顯微鏡和樣品製備系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年6月11日啟用。技術指標 (1)FEI Tecnai Femto G2 20超快透射電鏡主機,熱電子模式thermionic emission,CTEM點解析度≤0.27nm,CTEM線解析度≤0.14nm,STEM線...
透射式電子顯微鏡及圖像採集系統是一種用於物理學、化學、生物學、材料科學領域的分析儀器,於2010年11月25日啟用。技術指標 在加速電壓100KV時,用底插相機實現0.2納米晶格解析度。實際使用側插相機時,可觀察到1納米大小顆粒物。主要...
《透射電子顯微鏡控制系統技術升級》是由中國地質科學院礦產資源研究所擔任第一完成單位,由徐文藝、陳振宇、崔艷合、余靜擔任主要完成人的科研項目。成果信息 成果摘要 本工作項目經過一年的實施,成功地對8800R的掃描、能譜系統實施了升級...
電鏡成像系統 電鏡成像系統是一種用於生物學、基礎醫學、臨床醫學領域的分析儀器,於2009年8月13日啟用。技術指標 解析度4K×4K,1100萬像素。主要功能 用於電鏡圖像採集。
場發射掃描電子顯微鏡分析系統成分探測系統是一種用於化學領域的科學儀器,於2017年9月26日啟用。技術指標 解析度:二次電子(SE)像,高真空模式:15kV時≤1.0 nm;1kV時≤1.4 nm。主要功能 用於材料表面微觀形貌觀察。