掃描電子顯微鏡的製造是依據電子與物質的相互作用。當一束高能的人射電子轟擊物質表面時,被激發的區域將產生二次電子、俄歇電子、特徵x射線和連續譜X射線、背散射電子、透射電子,以及在可見、紫外、紅外光區域產生的電磁輻射。同時,也可產生電子-空穴對、晶格振動 (聲子)、電子振盪 (電漿)。原則上講,利用電子和物質的相互作用,可以獲取被測樣品本身的各種物理、化學性質的信息,如形貌、組成、晶體結構、電子結構和內部電場或磁場等等。
基本介紹
- 名稱:掃描電子顯微鏡檢查
- 所屬分類:顯微鏡檢查
掃描電子顯微鏡的製造是依據電子與物質的相互作用。當一束高能的人射電子轟擊物質表面時,被激發的區域將產生二次電子、俄歇電子、特徵x射線和連續譜X射線、背散射電子、透射電子,以及在可見、紫外、紅外光區域產生的電磁輻射。同時,也可產生電子-空穴對、晶格振動 (聲子)、電子振盪 (電漿)。原則上講,利用電子和物質的相互作用,可以獲取被測樣品本身的各種物理、化學性質的信息,如形貌、組成、晶體結構、電子結構和內部電場或磁場等等。
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場發射掃描電子顯微鏡(FESEM)是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高解析度,能做各種固態樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。該儀器利用二次電子成像...
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超高解析度掃描電子顯微鏡是專門為現今技術研究和發展設計的超高解析度儀器。... 超高解析度掃描電子顯微鏡是專門為現今技術研究和發展設計的超高解析度儀器。目錄 1 產品...
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這種作用在TEM中被用作電子束移動的方式,而在掃描電子顯微鏡中起到了非常重要的作用。通過這兩種效應以及使用電子成像系統,可以對電子束通路進行足夠的控制。與光學...
掃描透射電子顯微鏡(scanning transmission electron microscopy,STEM)既有透射電子顯微鏡又有掃描電子顯微鏡的顯微鏡。STEM用電子束在樣品的表面掃描,通過電子穿透樣品成像...
簡介 透射·掃描電子顯微鏡、ransmissian-acanaing e:ectr}n ms-。r}ascc3pe; }1'SEM電子顯微鏡的種。由電子槍產生的高速電子束,投射到待測試樣_巨,然後逐...
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掃描電子顯微鏡樣品製備技術(preparationof specimens for scanning electron microscopy):掃描電子顯微鏡以觀察樣品的表面形態為主,因此掃描電子顯微鏡樣品的製備,必須滿足...
雷射掃描共聚焦顯微鏡(Laser scanning confocal microscope)是20世紀80年代中期發展起來並得到廣泛套用的新技術 [1] ,它是雷射、電子攝像和計算機圖像處理等現代高科技...
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能譜儀(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用來對材料微區成分元素種類與含量分析,配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。...
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