計算機控制掃描電子顯微鏡是一種用於能源科學技術、化學工程領域的分析儀器,於2014年10月31日啟用。
基本介紹
- 中文名:計算機控制掃描電子顯微鏡
- 產地:英國
- 學科領域:能源科學技術、化學工程
- 啟用日期:2014年10月31日
- 所屬類別:分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡
計算機控制掃描電子顯微鏡是一種用於能源科學技術、化學工程領域的分析儀器,於2014年10月31日啟用。
計算機控制掃描電子顯微鏡是一種用於能源科學技術、化學工程領域的分析儀器,於2014年10月31日啟用。技術指標二次電子解析度不差於3.0nm @30kV、8.0nm @3kV和 15nm (1kV)背散射電子分0.3-3...
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全自動擴散泵DP。主要功能 JSM-6510A/ JSM-6510LA分析型掃描電子顯微鏡,與日本電子公司的元素分析儀(EDS),統合於一體。結構緊湊的EDS由顯微鏡主體系統的電腦控制,操作員只用一隻滑鼠,就可完成從圖像觀測到元素分析的整個過程。
電源櫃由高壓發生器、勵磁電流穩流器和各種調節控制單元組成。種類 電子顯微鏡按結構和用途可分為透射式電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、反射式電子顯微鏡和發射式電子顯微鏡等。透射式電子顯微鏡常用於觀察那些用普通顯微鏡所不能分辨的細微物質...
雷射共聚焦的工作原理簡單表達就是它採用雷射為光源,在傳統螢光顯微鏡成像的基礎上,附加了雷射掃描裝置和共軛聚焦裝置,通過計算機控制來進行數位化圖像採集和處理的系統。雷射掃描共聚焦顯微鏡基本結構 雷射掃描共聚焦顯微鏡系統主要包括掃描...
JEOL掃描電子顯微鏡是一種用於生物學、物理學、化學、基礎醫學領域的分析儀器,於2019年7月6日啟用。技術指標 電子光學系統 二次電子解析度 3.0nm@30kV;8.0nm@3kV;15nm@1kV(鎢燈絲) 2.0nm@30kV;6.0nm@3kV;9nm@1kV(六硼化...
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電子學控制系統 掃描隧道顯微鏡是一個納米級的隨動系統,因此,電子學控制系統也是一個重要的部分。掃描隧道顯微鏡要用計算機控制步進電機的驅動,使探針逼近樣品,進入隧道區,而後要不斷採集隧道電流,在恆電流模式中還要將隧道電流與設定...
共聚焦顯微鏡主要由五部分組成:顯微光學系統、掃描裝置、光源、檢測器和套用軟體系統。整套儀器由計算機控制,各部件之間的操作切換都可在計算機操作平台界面中方便靈活地進行。(1)顯微光學系統:顯微鏡是共焦檢測系統常用的組件,是系統...
雙束掃描電子顯微鏡是一種用於數學領域的分析儀器,於2017年5月1日啟用。技術指標 1. Elstar 電子槍:Schottky 熱量場發射器。3. 配備Pt氣體沉積源。4. 掃描電子顯微成像配備多種探頭,適用於不同的樣品和工作模式:ETD和TLD,ICD,...
c掃描技術是將超聲檢測與微機控制和微機進行數據採集、存貯、處理、圖像顯示集合在一起的技術。工作過程 超音波C 掃描系統使用計算機控制超聲換能器(探頭) 在工件上縱橫交替搜查, 將探測特定範圍內(指工件內部) 的反射波強度以輝度的...
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