掃描電子顯微鏡[學]（scanning electron microscopy，sem，scanning electron microscopy，sem）是1993年公布的電子學名詞。
掃描電子顯微鏡[學]（scanning electron microscopy，sem，scanning electron microscopy，sem）是1993年公布的電子學名詞。公布時間 1993年，經全國科學技術名詞審定委員...
掃描電子顯微鏡（SEM）是1965年發明的較現代的細胞生物學研究工具，主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態，即用極狹窄的電子束去掃描樣品，通過電子束與...
掃描電子顯微鏡法（scanning electron microscopy）是2015年公布的計量學名詞。定義 用聚焦的電子束轟擊樣品，以獲取次級電子、背散射電子、透射電子、樣品電流、束感生...
電子顯微鏡是用一束電子照射到樣品上並將其組織結構細節放大成像的顯微鏡。根據成像特點,目前廣泛使用的電子顯微鏡有:①透射電子顯微鏡;②掃描電子顯微鏡;③掃描透射...
《掃描電子顯微鏡入門》是1985年科學出版社出版的圖書，作者是馬金鑫、朱國凱。內容簡介 本書介紹了掃描電子顯微鏡的歷史、原理，生物掃描樣品的製備技術，以及掃描電子...
掃描電子顯微鏡系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2015年10月26日啟用。技術指標 解析度：3.0nm@30KV(SE and W),4.0nm@30KV(VP with BSD)。...
掃描電子顯微鏡 掃描電子顯微鏡的電子束不穿過樣品，僅以電子束儘量聚焦在樣本的一小塊地方，然後一行一行地掃描樣本。入射的電子導致樣本表面被激發出次級電子。顯微鏡...
JSM-6510A/ JSM-6510LA分析型掃描電子顯微鏡，與日本電子公司的元素分析儀（EDS），統合於一體。結構緊湊的EDS由顯微鏡主體系統的電腦控制，操作員只用一隻滑鼠，就...
掃描電子顯微鏡-能譜儀是一種用於物理學、化學、生物學、冶金工程技術領域的分析儀器，於2009年8月31日啟用。技術指標 二次電子像解析度：1.0nm(15kv)；1.4nm(...
掃描線圈迫使電子探針在薄膜試樣上掃描，與掃描電子顯微鏡不同之處在於探測器置於試樣下方，探測器接受透射電子束流或彈性散射電子束流，經放大後，在螢光屏上顯示與...
這種作用在TEM中被用作電子束移動的方式，而在掃描電子顯微鏡中起到了非常重要的作用。通過這兩種效應以及使用電子成像系統，可以對電子束通路進行足夠的控制。與光學...
掃描式電子顯微鏡系統是一種用於物理學、化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器，於2011年3月10日啟用。技術指標 放大倍數30-300000，解析度3nm。主要功能 對材料...
還可分析生物樣品和非導電樣品（背散射和二次電子像）、分析液體樣品以及土20°C內的固液相變過程觀察。簡要介紹 ESEM是環境掃描電子顯微鏡(EnvironmentalScanning...
掃描電子顯微鏡的製造是依據電子與物質的相互作用。當一束高能的人射電子轟擊物質表面時，被激發的區域將產生二次電子、俄歇電子、特徵x射線和連續譜X射線、背散射...
台式掃描電子顯微鏡（Desktop Scanning Electron Microscope）是一種體積小巧，可安放在實驗檯面上操作的電子顯微鏡。其原理和傳統掃描電子顯微鏡相同。部件包括：電子發射...
多功能掃描式電子顯微鏡是一種用於農學、林學、材料科學領域的分析儀器，於2012年12月07日啟用。技術指標 1.加速電壓：200V~30kV；2.放大倍數：6~100萬倍,誤差 ...
高分辨掃描電子顯微鏡是一種用於化學、材料科學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2018年11月07日啟用。技術指標 1.低加速電壓成像能力，1kv解析度可達1...
掃描電子顯微鏡（SEM）雖然能揭示一定的 表面情況，但由於入射電子總具有一定能量，會穿入樣品內部， 因此分析的所謂“表面” 總在一定深度 上，而且分辮率也受到...
JEOL掃描電子顯微鏡是一種用於生物學、物理學、化學、基礎醫學領域的分析儀器，於2019年7月6日啟用。技術指標 電子光學系統 二次電子解析度 3.0nm@30kV;8.0nm@3...
高真空掃描電子顯微鏡是一種用於物理學、化學領域的分析儀器，於2013年5月13日啟用。技術指標 電子槍: 鎢燈絲二次電子解析度: 30KV下3.0nm; 3KV下8.0nm 背...
高分辨場發射掃描電子顯微鏡系統是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2018年12月21日啟用。技術指標 二次電子解析度≤0.6nm(15kV);二次電子解析度≤0.9nm（1kV...
超高分辨掃描電子顯微鏡是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2017年12月22日啟用。技術指標 15 KV：解析度０.８nm（工作距離４nm), 1 KV: 1.1 nm (...
掃描電子顯微鏡及能譜儀是一種用於材料科學、機械工程、安全科學技術領域的分析儀器，於2010年12月27日啟用。技術指標 放大倍數:6x–1,000,000x，解析度：30kV下3...
分析型掃描電子顯微鏡是一種用於電子與通信技術領域的分析儀器，於2012年09月10日啟用。技術指標 放大倍數：5倍~30萬倍。主要功能 觀測樣品的表面、切面、斷面結構...
場發射掃描電子顯微鏡系統是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2013年9月13日啟用。技術指標 二次電子解析度 1.0nm （加速電壓15kV、WD＝4mm） 1.3nm （加速...
雙束掃描電子顯微鏡是一種用於數學領域的分析儀器，於2017年5月1日啟用。技術指標 1. Elstar 電子槍：Schottky 熱量場發射器。3. 配備Pt氣體沉積源。4. 掃描電子...
高低真空掃描電子顯微鏡是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器，於2005年5月20日啟用。技術指標 高真空模式解析度：3.0nm；低真空模式解析度：4.0nm；...
日立高分辨掃描電子顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2010年3月18日啟用。技術指標 加速電壓0.5-30KV；高加速電壓15KV，二次電子圖像解析度1nm；低加速...
冷場掃描電子顯微鏡是一種用於生物學、農學、畜牧、獸醫科學、食品科學技術領域的分析儀器，於2016年3月1日啟用。技術指標 二次電子圖象分二次電子圖象解析度： 1.0...
掃描電子顯微鏡能譜分析儀器是一種用於化學領域的分析儀器，於2014年6月16日啟用。技術指標 最高解析度：≤3nm。 3X~1000,000X或者更寬,連續可調，從小到大任一...
