JEOL掃描電子顯微鏡是一種用於生物學、物理學、化學、基礎醫學領域的分析儀器,於2019年7月6日啟用。
基本介紹
- 中文名:JEOL掃描電子顯微鏡
- 產地:日本
- 學科領域:生物學、物理學、化學、基礎醫學
- 啟用日期:2019年7月6日
- 所屬類別:分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡
JEOL掃描電子顯微鏡是一種用於生物學、物理學、化學、基礎醫學領域的分析儀器,於2019年7月6日啟用。
JEOL掃描電子顯微鏡是一種用於生物學、物理學、化學、基礎醫學領域的分析儀器,於2019年7月6日啟用。技術指標 電子光學系統 二次電子解析度 3.0nm@30kV;8.0nm@3kV;15nm@1kV(鎢燈絲) 2.0nm@30kV;6.0nm@3kV;9nm@1kV(六硼化...
JEOL掃描式電子顯微鏡是一種用於機械工程領域的分析儀器,於2018年7月13日啟用。技術指標 高真空解析度 3.0nm in SEI (二次電子圖像)|JSM-IT300 解析度高真空模式 3.0 nm (30 kV) 8.0nm(3.0 kV) 15.0 nm(1.0 kV) ...
JEOL目前面向中國及全球,生產銷售各型掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡、電子探針、掃描探針顯微鏡、X射線螢光光譜儀、核磁共振設備、質譜儀、電子自旋振動設備、半導體製造檢查裝置等。產品運用覆蓋了材料科學、生命科學等學術技術領域,在無機、...
日本JEOL掃描電子顯微鏡是一種用於安全科學技術領域的分析儀器,於2007年11月13日啟用。技術指標 放大倍數5-10萬倍;三級物鏡光欄;高低真空切換;加速電壓0.5→30KV。主要功能 金屬材料,納米材料,微觀形貌分析及微區成份分析。
先後執掌過七台透射電子顯微鏡的運行管理、教學研究,包括FEI Titan FEG-300 KV, FEI Tecnai FEG 300 KV, 全美第一台冷場Hitachi 2000, 美國西北大學第一台超高真空Hitachi 9000,JEOL4000和JEOL2010HR。
測試分析方法:用日本電子公司(JEOL)JSM-6300型掃描電鏡(SEM)及美國KEVEX公司X射線能譜儀(EDS)對深腐蝕後的金剛石進行形貌觀察,並用X射線能譜儀對碳化物做了定點分析。用日本Shimadzu公司的XD-3A型X射線衍射儀(Cu靶,V=40kV ,I=...