雷射共聚焦掃描分析儀

雷射共聚焦掃描分析儀是一種用於力學、物理學領域的分析儀器，於2016年12月25日啟用。

基本介紹

• 中文名：雷射共聚焦掃描分析儀
• 產地：德國
• 學科領域：力學、物理學
• 啟用日期：2016年12月25日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器

技術指標

雷射光源：405nm 放大倍數墓提紙：25x—40000x X、Y軸解析度：120nm，Z軸步進精夜舟墊迎度：1nm 觀察方式地犁：明場、暗場、偏光、微分干涉肯奔轎洪。

主要功能

主要進行產品表詢糊棄面形貌及材料顯微組織觀察、材料晶粒度、晶粒長徑比、孔隙挨鞏祝率及戀頸肯顆粒度的測量與評價，材料表面粗糙度、塗層薄膜厚度測量。