高溫雷射共聚焦掃描顯微鏡

高溫雷射共聚焦掃描顯微鏡

高溫雷射共聚焦掃描顯微鏡是一種用於材料科學、機械工程領域的計量儀器,於2015年12月16日啟用。

基本介紹

  • 中文名:高溫雷射共聚焦掃描顯微鏡
  • 產地:日本
  • 學科領域:材料科學、機械工程
  • 啟用日期:2015年12月16日
  • 所屬類別:計量儀器 > 長度計量儀器 > 雙頻雷射干涉儀
技術指標,主要功能,

技術指標

1.SVF17SP高溫爐,最高溫度1700度,最大升溫速度1000度每分鐘,最大降溫速度-6000度每分鐘。2溫度控制精度為0.1度。3.SVF15FTC高溫爐,最高溫度1200度,拉伸載荷最大5000N,壓縮載荷最大2000N。4.掃描速度最大120幀每秒。

主要功能

主要用於固體材料和高溫熔體的表面觀察。可以在超高溫(1750℃)情況下實現對材料組織結構變化(熔融、結晶、凝固等)的實時和高清晰觀察與分析。

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