高溫雷射掃描共聚焦顯微鏡

高溫雷射掃描共聚焦顯微鏡是一種用於數學領域的分析儀器，於2016年12月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：高溫雷射掃描共聚焦顯微鏡
• 產地：日本
• 學科領域：數學
• 啟用日期：2016年12月1日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器

採用1.5kw鹵素光源紅外反射集光，形成10。

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