分子束外延系統是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器,於2013年11月22日啟用。
基本介紹
- 中文名:分子束外延系統
- 產地:美國
- 學科領域:物理學、化學、材料科學
- 啟用日期:2013年11月22日
- 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器
分子束外延系統是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器,於2013年11月22日啟用。
分子束外延系統是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器,於2013年11月22日啟用。技術指標超高真空沉積腔體,本底真空優於10-9mbar。可集成多種薄膜製備和表面分析設備,如磁控濺射源、離子源、STM、XPS等...
分子束外延聯合系統是一種用於物理學、材料科學領域的工藝試驗儀器,於2015年9月21日啟用。技術指標 背景真空5E-10 mBar,可生長4寸樣品,可同時生長IV和III-V族材料。主要功能 具有IV族和III-V族雙腔的MBE系統,適用於外延生長III-V...
分子束外延,就是在超高真空系統中把所需要的結晶材料放入到噴射爐中,將噴射爐加熱。使結晶材料形成分子束,從爐中噴出後,沉積在溫度保持在幾百度的單晶基片上。如果設定幾個噴射爐,就可以製取多元半導體混晶,又可以同時進行摻雜。由於...
分子束外延掃描探針顯微系統是一種用於物理學領域的分析儀器,於2018年12月7日啟用。技術指標 快速進樣室:材料為不鏽鋼304,腔體外徑為114mm,內壁電化學拋光處理 真空度:優於1.3�10-5Pa (焙燒前) 安放台:固定在磁力傳送桿上...
矽鍺分子束外延系統是一種用於物理學、材料科學領域的工藝試驗儀器,於2018年04月20日啟用。技術指標 背景真空5E-10 mBar,可生長4寸樣品,生長IV族材料。主要功能 具有IV族生長腔的MBE系統,適用於外延生長IV族半導體低維量子材料,如...
組合雷射分子束外延系統 組合雷射分子束外延系統是一種用於物理學、材料科學領域的工藝試驗儀器,於2013年12月2日啟用。技術指標 功率:5kW, 真空度:1e-9torr,溫度:20-1000℃。主要功能 生長連續梯度組分薄膜。
小型分子束外延系統 小型分子束外延系統是一種用於物理學領域的科學儀器,於2011年5月1日啟用。技術指標 三個液態源,兩個固態源,兩路氣態源。主要功能 可以高保形型,原子層厚度逐層生長薄膜材料。
超高真空雷射分子束外延系統 超高真空雷射分子束外延系統是一種用於物理學、材料科學領域的工藝試驗儀器,於2013年11月21日啟用。技術指標 RHEED振盪。主要功能 可提供多種氧化物單晶薄膜製備,並實現原位金屬電極沉積。
雷射分子束外延成膜系統是一種用於電子與通信技術、物理學領域的工藝試驗儀器,於2011年12月1日啟用。技術指標 極限真空:5.0×10-8 Pa。主要功能 用於生長光學晶體、鐵電體、鐵磁體、超導體和有機化合物薄膜材料。
超高真空分子束外延系統 超高真空分子束外延系統是一種用於物理學、材料科學領域的工藝試驗儀器,於2017年11月2日啟用。技術指標 500 EBV。主要功能 薄膜生長。
超高真空分子束外延生長和原位測量系統是一種用於物理學領域的工藝試驗儀器,於2008年8月1日啟用。技術指標 本底真空可達1*10^-10Torr PLD靶數量:6個 熱蒸發源數量:5個 樣品架變溫範圍:-200~1000攝氏度。主要功能 主要用於薄膜...
氧化物分子束外延生長系統是一種用於能源科學技術、物理學、材料科學領域的工藝試驗儀器,於2013年3月31日啟用。技術指標 超高真空:10-9 torr;多個穩定可控蒸發源;樣品台溫度800℃;束流測試精度優於0.01A/s。主要功能 外延生長高...
矽基分子束外延系統 矽基分子束外延系統是一種用於物理學、電子與通信技術領域的工藝試驗儀器,於2016年12月8日啟用。技術指標 極限真空5×10-9 Pa,最大襯底3英寸,配有RHEED和四極質譜儀。主要功能 矽基外延材料製備。
超高真空分子束外延和線性傳輸系統是一種用於材料科學領域的科學儀器,於2018年6月15日啟用。技術指標 超高真空至2*10-10mbar,樣品台溫度控制精度在0.1oC,束流控制精度在0.01埃/s。主要功能 分子束外延法生長薄膜半導體材料設備。
掃描隧道顯微鏡和分子束外延系統 掃描隧道顯微鏡和分子束外延系統是一種用於物理學領域的計量儀器,於2015年10月22日啟用。技術指標 低溫測試:30mk。主要功能 分子束外延。
分子束外延掃描隧道顯微鏡超真空聯合系統 分子束外延掃描隧道顯微鏡超真空聯合系統是一種用於物理學領域的分析儀器,於2018年4月3日啟用。技術指標 GC-STMRT-0100-MBE-UHV-0101。主要功能 分子束態分析。
分子束外延設備有很多種。但就其主要結構而論是大同小異的。分子束外延的設備較其他外延技術的設備複雜,要包括超高真空系統努森箱及各種分析儀器。從MBE技術的發展過程看,當初主要是為開發以GaAs為中心的Ⅲ-V族化合物半導體,而後是針對...
分子束外延沉積系統是一種用於物理學、電子與通信技術領域的工藝試驗儀器,於2013年7月9日啟用。技術指標 超真空度:10^-10Torr;原子尺度內可控生長HgCdTe(MCT)基單晶薄膜、異質結和量子阱等;原子層尺度監測材料的生長;納米級超薄膜...
分子束外延薄膜沉積系統 分子束外延薄膜沉積系統是一種用於材料科學領域的物理性能測試儀器,於2014年6月5日啟用。技術指標 基礎真空:1.0*10^(-10)Torr。主要功能 薄膜材料樣品製備。
主要設備:石墨烯CVD系統、超高真空石墨烯外延系統、分子束外延系統(MBE)、雷射分子束外延系統等。人物經歷 2001年6月獲四川大學材料學博士學位,2001.7月-2005.1先後在中科院物理研究所、台灣清華大學從事博士後研究,2005.3-2008.5...
開發包括各類控制器、精密放大器、束源爐、低溫恆溫器等在內的一批核心關鍵部件,並先後主持或核心參與研製搭建了各類真空系統十餘台套,包括掃描探針顯微鏡系統、分子束外延系統、雷射分子束外延系統、原子層沉積系統等。
整個系統不僅在各項指標上達到了國際先進水平,同時極大提高了我們對樣品調控的自由度。在這套系統中,我們將原位樣品調控系統、分子束外延生長系統和最新一代的角分辨光電子能譜系統緊密結合在了一起。利用這一系統,我們取得了多個研究...
包括:4台分子束外延系統(MBE)(1新、3舊);各種穩態、時間分辨和非線性光譜系統(飛秒瞬態雷射光譜,拉曼光譜,付里葉光譜,PL、PLE光譜,磁光和時間分辨法拉第旋轉光譜);低溫強磁場系統和各種電學測試手段。研究所新建的“半導體...
Materials Studio、HFSS、Microwave Studio、ADS、L-Edit等),可滿足項目材料與薄膜電路設計的需要;薄膜製備與處理工藝平台包括射頻/直流磁控濺射系統、脈衝雷射沉積系統(PLD)、雷射分子束外延系統(L-MBE)、蒸發系統以及退火爐、快速晶化爐...