掃描隧道顯微鏡和分子束外延系統

掃描隧道顯微鏡和分子束外延系統是一種用於物理學領域的計量儀器，於2015年10月22日啟用。

基本介紹

• 中文名：掃描隧道顯微鏡和分子束外延系統
• 產地：日本
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2015年10月22日
• 所屬類別：計量儀器 > 長度計量儀器 > 掃描隧道顯微鏡

技術指標

低溫測試：30mk。

主要功能

分子束外延。