冷場發射電子顯微鏡

冷場發射電子顯微鏡是一種用於化學領域的電子測量儀器，於2012年8月21日啟用。

基本介紹

• 中文名：冷場發射電子顯微鏡
• 產地：日本
• 學科領域：化學
• 啟用日期：2012年8月21日
• 所屬類別：電子測量儀器

技術指標

加速電壓：0.1~30kV 觀測倍率：20~800000倍。

主要功能

形貌觀察；能譜分析；明場暗場像。