X射線螢光光譜儀32SA是一種用於化學領域的分析儀器,於2011年7月20日啟用。
基本介紹
- 中文名:X射線螢光光譜儀32SA
- 產地:日本
- 學科領域:化學
- 啟用日期:2011年7月20日
- 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器 > X射線螢光光譜儀
X射線螢光光譜儀32SA是一種用於化學領域的分析儀器,於2011年7月20日啟用。
X射線螢光光譜儀32SA X射線螢光光譜儀32SA是一種用於化學領域的分析儀器,於2011年7月20日啟用。技術指標 設備精密度≤0.6%;設備穩定性≤1.4%。主要功能 鋼鐵及其原材料的元素分析。
X射線螢光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer,簡稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線螢光(X-ray fluorescence,XRF)是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用於元素分析...
X-射線螢光光譜儀是一種用於物理學、化學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2013年5月5日啟用。技術指標 X射線管靶: 銠靶(Rh) X射線管壓: 60KV(Max) X射線管壓: 150mA(Max)檢測元素範圍:19F...
X射線式螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2017年11月1日啟用。技術指標 S8 Tiger分析元素範圍:O8—U92 S8 Tiger分析含量範圍:0.1ppm到100% 高壓發生器: S8 Tiger最大功率≥4kW;最大電壓≥60kV,20-60 kV 間 1 ...
X射線螢光分析儀誕生至今,已發展到第三代。X 射線螢光光譜儀的不斷完善和發展所帶動的X 射線螢光分析技術已被廣泛用於冶金、地質、礦物、石油、化工、生物、醫療、刑偵、考古等諸多部門和領域。X 射線螢光光譜分析不僅成為對其物質的化學...
X型射線螢光光譜儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器,於2012年9月30日啟用。技術指標 每個元素測量時間在2-10秒;角度準確度優於±0.001°,角度重現性優於±0.0001°。主要功能 主要用於特種合金材料分析檢測,具有...
X射線螢光衍射光譜儀是一種用於環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2006年12月1日啟用。技術指標 上照式、波長色散掃描式螢光光譜儀,靶材及功率:Rh靶 4kW,可以對5B到92U進行快速定性、定量分析,元素的檢量範圍0.0001%~...
X射線螢光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2017年12月1日啟用。技術指標 X射線光管陽極材料:銠靶 最大功率:4kW 最大額定電壓:60kV 最大額定電流:160mA 樣品最大尺寸:直徑51.5mm,高40mm 分析腔體溫度:30±0.05℃...
X射線螢光光譜分析儀是一種用於化學工程領域的分析儀器,於2015年6月11日啟用。技術指標 儀器測量線性誤差:Cd:7.7%;儀器測量重複性: Cd:1.5%;線性誤差的擴展不確定度:U=5%,k=2。主要功能 不同元素具有波長不同的特徵X射線...
微區X射線螢光光譜儀是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2017年12月28日啟用。技術指標 Rh靶,多毛細管X射線光學,可達到20μm大小(Mo-K);30mm2矽漂移探測器(SDD),能量解析度 145eV(@300kcps);倉體內部尺寸≥600mm*350...
全自動X射線螢光光譜儀是一種用於物理學領域的分析儀器,於2014年04月30日啟用。技術指標 1 類型:順序掃描波長色散型X射線螢光光譜儀; 2 元素分析範圍:氧(8)—鈾(92); 3 濃度範圍從ppm到主含量; 4 長期動態綜合穩定性:≤0...
掃描性X射線螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2008年11月15日啟用。技術指標 四位準直器交換器,配0.23°,0.46°兩個準直器; 自動進樣器:60位X-Y二維全自動機器人進樣器; 高壓發生器: 穩定性:外電源波動±1%...
X射線螢光光譜儀Axiosmax是一種用於地球科學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2016年11月2日啟用。技術指標 1.允許元素分析範圍:Be(4)-U(92) 2. 測角儀重現性:0.0001度。主要功能 (1)樣品中不同元素的定性...
X射線螢光光譜分析系統是一種用於物理學領域的分析儀器,於2017年5月26日啟用。技術指標 1、獨特的UCCOTM技術,更高的靈敏度2、全新的數位化莫爾條紋測角儀,業內最快的測角儀3、更薄鈹窗、更近的樣品與光管距離4、光管防護罩和...
掃描型X射線螢光光譜儀是一種用於冶金工程技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2013年4月1日啟用。技術指標 X射線管 4KW薄窗,Rh靶,管電流140mA;全自動計算機控制,2θ掃描速度連續掃描0.1°-300°/min,定位重現性±...
螢光光譜儀簡介 結構 由光源、激發光源、發射光源、試樣池、檢測器、顯示裝置等組成。分類 螢光光譜儀可分為X射線螢光光譜儀和分子螢光光譜儀。原理 主要用途 1.螢光激發光譜和螢光發射光譜 2.同步螢光(波長和能量)掃描光譜 3.3D(...
全反射X射線螢光光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2016年11月28日啟用。技術指標 可分析元素範圍:Al~U(靶元素和與靶元素干擾嚴重的元素除外) 濃度範圍:10-9~100% 檢出限:Ni≤2pg 激發源:最大功率≥30W;最大激發...
店儀的待點是具有較高的解析度,可進行物質中元素的化學狀態分析:其原理與普通(一個晶體)的K射線螢光光譜儀相同。儀器由X射線發生器、樣品室、分析室、氣流正比一1}數簫、電子記錄和數據處理系統等y}成。分光系統rF兩個晶體的配置有...
波長色散型X射線螢光光譜儀是一種用於化學、食品科學技術領域的分析儀器,於2008年12月23日啟用。技術指標 最大功率3.6KV;0~60KV間,1KV連續可調;高壓發生器輸出穩定度±0.0001%;12位自動進樣器;下照式,六塊晶體。主要功能 ...
波長色散式X射線螢光光譜儀是一種用於化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器,於2012年10月23日啟用。技術指標 布拉格角範圍:13到98度28波 分析晶體:氟化鋰200,可選其他晶體 元素範圍:Kα 22-48(鈦到銀) 元素範圍:Lα 56-...
X射線螢光顯微分析儀 X射線螢光顯微分析儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2005年6月8日啟用。技術指標 分析元素Na-U,能量解析度FWHM 主要功能 材料分析,微區成分分析,光學圖像觀察,內部異物分析,圖像處理。
偏振X射線螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2013年6月25日啟用。技術指標 鈀靶X射線管: 最大功率50W最大電壓50kV 檢測系統:能量解析度小於或等於160電子伏特。主要功能 分析Mg-U元素,同時獲套用化學得套用化學各元素的光譜...
順序式X射線螢光光譜儀,成份分析儀器,主要用於各種岩礦和建材的分析。主要用途 分析元素範圍:F-U;分析含量範圍:微量(ppm)一常量(%)主要用於各種岩礦和建材的分析,如:矽酸鹽、矽鋁酸鹽、碳酸鹽、磷灰石、鋁土礦、水泥、陶瓷、...
X射線螢光光譜儀制樣設備 X射線螢光光譜儀制樣設備是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2016年11月18日啟用。技術指標 40噸壓片機和六頭電熱熔融爐。主要功能 樣品製備。
順序掃描式X射線螢光光譜儀 順序掃描式X射線螢光光譜儀是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2018年12月12日啟用。技術指標 ARL Perform”X4200。主要功能 主量元素分析,分析元素範圍從Be到U,誤差5%。
X射線螢光光譜儀92SA X射線螢光光譜儀92SA是一種用於化學領域的分析儀器,於2010年8月20日啟用。技術指標 設備精密度≤0.6%; 設備穩定性≤1.4%。主要功能 鋼鐵及其原材料的元素分析。
X射線螢光能譜儀EDXRF X射線螢光能譜儀EDXRF是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年4月27日啟用。技術指標 ARL QUANTX。主要功能 元素分析。
大腔體X射線螢光光譜儀是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器,於2005年12月01日啟用。技術指標 Rh靶材,直接激發,對固體塊狀、粉末、液體、溶液直接測試,輸出管電壓5~50 kV,可做1 kV多段任意調整,探測器使用液氮冷卻,...