偏振X射線螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2013年6月25日啟用。
基本介紹
- 中文名:偏振X射線螢光光譜儀
- 產地:德國
- 學科領域:化學
- 啟用日期:2013年6月25日
- 所屬類別:分析儀器 > 光譜儀器 > 螢光分光光度計
偏振X射線螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2013年6月25日啟用。
X射線螢光光譜儀(X-rayFluorescenceSpectrometer,簡稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線螢光(X-rayfluorescence,XRF)是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用於元素分析和...
X螢光光譜儀(XRF)由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管產生入射X射線(一次X射線),激發被測樣品,產生X螢光(二次X射線),探測器對X螢光進行檢測。技術原理 受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,並且不同的...
螢光光譜儀又稱螢光分光光度計,是一種定性、定量分析的儀器。通過螢光光譜儀的檢測,可以獲得物質的激發光譜、發射光譜、量子產率、螢光強度、螢光壽命、斯托克斯位移、螢光偏振與去偏振特性,以及螢光的淬滅方面的信息。螢光光譜儀簡介 結構...
螢光分析 X射線螢光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法,又稱X射線次級發射光譜分析,是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子,使之產生次級的特徵X射線(X光螢光)而進行物質成分分析和化學態研究。1948年由...
《X射線螢光光譜儀》是2008年化學工業出版社出版的圖書,作者是羅立強、詹秀春。內容簡介 本書分十二章介紹了X射線螢光光譜分析的原理,儀器主要部件,定性與定量分析方法,基體校正與數據處理方法,樣品製備技術,具有共性的儀器校正方法、...
X射線螢光發射光譜儀 用於測量螢光X射線的X射線光譜儀。
X射線螢光能譜儀EDXRF X射線螢光能譜儀EDXRF是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年4月27日啟用。技術指標 ARL QUANTX。主要功能 元素分析。
第四節 偏振激發X射線螢光光譜儀 第五節 全反射X射線螢光光譜儀 第六節 聚束毛細管透鏡微束XRF光譜儀 參考文獻 第六章 定性與定量分析方法 第一節 定性分析 第二節 定量分析 一、獲取譜峰淨強度 二、干擾校正 三、濃度計算 第三...
X螢光光譜儀-Axios是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2012年5月22日啟用。技術指標 可分析F-U間元素:常量(%)-微量(ppmm),精密度(主、次量元素)RSD%:0.1-1.0。計數線性:SC為1500kcps,FPC為3000kcps。動態長期穩定性:0....
日本理學X螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2004年12月1日啟用。技術指標 2θ角15°193°,RSD 主要功能 金屬材料/陶瓷/玻璃/土壤/礦物中的元素定性可測元素B~U範圍內的所有元素。RSD<1%,最大功率4KW,微區分析...
掃描性X射線螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2008年11月15日啟用。技術指標 四位準直器交換器,配0.23°,0.46°兩個準直器; 自動進樣器:60位X-Y二維全自動機器人進樣器; 高壓發生器: 穩定性:外電源波動±1%...
掃描型X射線螢光光譜儀是一種用於冶金工程技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2013年4月1日啟用。技術指標 X射線管 4KW薄窗,Rh靶,管電流140mA;全自動計算機控制,2θ掃描速度連續掃描0.1°-300°/min,定位重現性±...
波長色散X射線螢光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子,使之產生螢光(次級X射線),從而進行物質成分分析的儀器。利用原級 X射線螢光光譜儀又稱XRF光譜儀,有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長色散型和能量...
《X射線螢光光譜儀在線上自動分析系統》是由地質礦產部 瀋陽綜合岩礦測試中心擔任第一完成單位,由才書林、郭玉林、李潔擔任主要完成人的科研項目。成果信息 成果摘要 本在線上自動分析系統用IBM386計算機取代了Rigaku 3080型X射線螢光光譜儀原來...
波長色散型X射線螢光光譜儀是一種用於化學、食品科學技術領域的分析儀器,於2008年12月23日啟用。技術指標 最大功率3.6KV;0~60KV間,1KV連續可調;高壓發生器輸出穩定度±0.0001%;12位自動進樣器;下照式,六塊晶體。主要功能 ...
能量色散X射線螢光光譜儀是使用小功率x射線管激發和簡單的分光系統的光譜儀。工作原理 能量色散x射線螢光光譜儀energy-disnersi}e x-ray flu-orexence spectromet。利用脈衝高度分析器進行能量色散的x射線螢光光譜儀公與波長色散x射線螢光...
全反射X射線螢光光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2016年11月28日啟用。技術指標 可分析元素範圍:Al~U(靶元素和與靶元素干擾嚴重的元素除外) 濃度範圍:10-9~100% 檢出限:Ni≤2pg 激發源:最大功率≥30W;最大激發...
N-Kα為12.2Kcps; C-Kα為543Kcps; Al-Kα在PX-25晶體下為892 Kcps。主要功能 X-射線螢光光譜儀被廣泛的套用於岩石,礦物及地球化學勘察樣品中40餘種常,次,微量元素的測定,測定範圍為0.000X%~100%,可用於無損檢測。
[16] 2009 劉明,徐琳,張愛濱,潘力,范德江,台式偏振X射線螢光光譜儀在海洋沉積物元素分析中的套用.中國海洋大學學報.39,421-427 [17] 2008 劉瑩,翟世奎,張愛濱,王蓓,ICP-MS測定海水中溶解態痕量重金屬-直接稀釋法. 海洋學報. 30(5...
材料分析:德國斯派克分析光譜儀 德國斯派克攜帶型火花直讀光譜儀 生命科學與化學分析:XRF偏振X射線螢光光譜儀 XRF微區分析X射線螢光光譜儀 波長色散型X射線螢光光譜儀 特安特別處理部: 根據您的問題 您詳細的寫清楚 我們會根據我們的...
測試中心擁有先進的實驗測試儀器200餘套,主要有偏振塞曼石墨爐原子吸收分光光度計(AAS)、X射線螢光光譜儀(XRF)、電感耦合電漿質譜儀(ICP-MS)、電感耦合電漿發射光譜儀(ICP)、凱氏定氮儀、高頻紅外碳硫儀、石墨爐原子吸收...