探針台系統是一種用於信息與系統科學相關工程與技術領域的電子測量儀器,於2013年06月15日啟用。
基本介紹
- 中文名:探針台系統
- 產地:美國
- 學科領域:信息與系統科學相關工程與技術
- 啟用日期:2013年06月15日
- 所屬類別:電子測量儀器
探針台系統是一種用於信息與系統科學相關工程與技術領域的電子測量儀器,於2013年06月15日啟用。
變溫探針台測試系統是一種用於物理學、自然科學相關工程與技術、電子與通信技術領域的電子測量儀器,於2017年7月6日啟用。技術指標 1、溫度範圍:~8K-675K(液氦製冷);~80-675K(液氮製冷); 2、樣品振動大小:≤ ±25nm; 3、樣品位置漂移:≤ ±60nm @ 30min; 4、三同軸探針臂的漏電性能:≤ 10fA; ...
探針台系統 探針台系統是一種用於信息與系統科學相關工程與技術領域的電子測量儀器,於2013年06月15日啟用。技術指標 半自動200mm帶Microchamber探針台。主要功能 自動定位樣品,並將電信號引出。
射頻晶片半自動探針台系統是一種用於電子與通信技術領域的電子測量儀器,於2017年9月30日啟用。技術指標 移動範圍大於203mm*203mm;數字針座;X,Y軸移動範圍:1.27cm*1.27cm;解析度:317.5mm/圈,探針漏電優於10fA,探針系統總漏電優於500fA;平均使用壽命不低於5000000次。主要功能 提供半自動晶圓測試條件。
超高真空納米探針台測試系統 超高真空納米探針台測試系統是一種用於材料科學領域的物理性能測試儀器,於2016年3月9日啟用。技術指標 真空室工作真空度優於3.0E-10 mbar,原子分辨像,表面原子台階像。主要功能 納米材料電學性能表征。
微探針台 微探針台是一種用於信息科學與系統科學、電子與通信技術領域的分析儀器,於2013年1月6日啟用。技術指標 扎針pad≥5μm*5μm,晶圓≤8寸,溫度≤200℃,附帶有源探針。主要功能 微探針台系統可以對晶片內部進行切割和扎針,以便進行Debug,進行快速故障定位和排除。
高壓探針台是一種用於信息科學與系統科學領域的工藝試驗儀器,於2013年12月04日啟用。技術指標 該設備是市面上唯一一家高壓探針台,能提供10000V/ 100A測試規格,同時達到fA級別低漏電,並提供主動式安全防護(通過CE、UL、TUV等歐美安規認證),是在提供高性能測試規格同時,唯一兼顧使用者安全的探針台。主要功能 ...
用途:以往如果需要測試電子元器件或系統的基本電性能(如電流、電壓、阻抗等)或工作狀態,測試人員一般會採用表筆去點測。隨著電子技術的不斷發展,對於精密微小(納米級)的微電子器件(如IC、wafer、Chip、LCD Array、CMOS Camera Module、Pitch微小的Connector),表筆點到被測位置就顯得無能為力了。於是一種高...
低溫真空探針台可用來測試晶片、晶圓片和封裝器件。套用領域包括半導體、MEMS、超導、鐵電子學、材料科學以及物理和光學等探針可以施加直流、低頻信號,高效率連續流低溫真空系統可使溫度控制在8K 到475K,可施加磁場(電磁鐵)。技術指標 10~400 K溫度範圍,0~5000 Oe,0~360度轉角控制。主要功能 低溫真空探針台可用...
6000系列分析探針台是一種用於信息科學與系統科學、物理學、核科學技術、電子與通信技術領域的分析儀器,於1998年1月1日啟用。技術指標 1、測量平台和顯微鏡精密手動控制,亞微米解析度的平台控制。2、平台4×4範圍x-y移動。3、顯微鏡x-y-z移動,1×1×2範圍。4、避光測量。5、平台可加熱至400℃。6、大視角...
;5.配置專利微暗箱(Microchamber);6.顯微觀察系統:採用先進的eVueIII全數字圖像放大觀察系統,放大倍數大於1000倍;7.載物台移動範圍:203mm#215;203mm,移動精度:+/-1um。;8.備配有與探針台一體的防震氣浮平台。;9..設備具有CE,SemiS2,S8認證。主要功能 大功率手動探針台在保護測試人員安全及測試儀器...
15-探針台是一種用於機械工程領域的分析儀器,於2018年12月28日啟用。技術指標 顯微鏡系統:1、氣動移動支架 2、移動範圍:50mm*50nm2、探針台:1、可載入真空/磁性吸附探針座 2、卡盤平整度:<5μm。主要功能 真空吸附;X-Y解析度優於+/-1um 載物台平整度5um 可控制樣品室氣氛及禁止光磁 機台配有真空...
系統可進行快速回溫;8、採用四通道高性能控溫儀,可分別對防輻射屏、樣品台、探針臂進行控溫和測溫;9、控溫穩定性:優於±100 mK;10、*顯微鏡系統光學解析度優於4 µm,樣品照明採用同軸光和環形光各一套;11、*直流探針具有Guard保護結構設計,適合於進行微弱電信號測量,減少漏電流;12、直流探針阻值為50...
毫米波探針台 毫米波探針台是一種用於電子與通信技術領域的電子測量儀器,於2018年6月28日啟用。技術指標 載片台 直徑≥160 mm 顯微鏡系統 放大倍率500倍 射頻針座 精確度≤±2μm 射頻探針 110GHz。主要功能 用於晶圓或單晶片測試。
真空探針台 真空探針台是一種用於數學領域的分析儀器,於2019年9月30日啟用。技術指標 真空度 SET。主要功能 在高真空環境下測試晶片。
射頻微波探針台 射頻微波探針台是一種用於信息科學與系統科學、信息與系統科學相關工程與技術領域的電子測量儀器,於2015年3月18日啟用。技術指標 S參數測試、交調測試、增益壓縮測試。主要功能 1、用於射頻晶片的S參數測試、交調測試、增益壓縮測試2、用於射頻晶片在高低溫情況下的性能測試。
變溫光電探針台是一種用於信息與系統科學相關工程與技術領域的科學儀器,於2018年1月24日啟用。技術指標 探針位置精度<50μm,溫度控制範圍:70K-730K,溫度穩定性:+/-0.05K,溫度解析度:0.01K,真空度:<8m Torr。主要功能 通過實現在真空密閉腔室內,改變所放樣品溫度,並用探針研究樣品特性。
精密變溫分析探針台 精密變溫分析探針台是一種用於電子與通信技術、信息與系統科學相關工程與技術領域的分析儀器,於2019年6月6日啟用。技術指標 8英寸探針台、帶變溫功能,正常測試室溫到150度,包含4個定位器。主要功能 可對8英寸以下晶圓進行在片變溫電學測量。
半自動探針台是一種用於信息科學與系統科學領域的分析儀器,於2004年3月17日啟用。技術指標 支持4,5,6寸wafer 解析度0.25um 提供4個SMU接口,可同時輸出(測量)四路直流信號。 每個SMU最大輸出電壓100V(-100V),最大輸出電流1A 測量功率100V*10mA。 開路漏電流20fA。主要功能 通過和外接的測試儀器4156C...
測試探針台 測試探針台是一種用於材料科學、電子與通信技術領域的電子測量儀器,於2017年02月17日啟用。技術指標 lakeshore TTPX 型號探針台性能指標。主要功能 光電子/電子器件測試。
常溫手動探針台 常溫手動探針台是一種用於電子與通信技術領域的電子測量儀器,於2012年12月13日啟用。技術指標 頻率範圍50GHz,微波和直流探針,高倍顯微鏡。主要功能 晶片常溫測量。
雷射修正探針台是一種用於信息科學與系統科學、物理學、工程與技術科學基礎學科領域的工藝試驗儀器,於2009年3月1日啟用。技術指標 8寸載物台,載物台平坦度5微米,X-Y軸行程 8x8 ,Chuck旋轉角度0~30 度,針座平台上下粗調行程6mm,平台上升下降25mm,精度1微米,20X~4000X 光學顯微放大。主要功能 針座平台可以...
SUMMIT11000B-M 片上測試探針系統(探針台),150mm及以下尺寸晶圓、single die,不完整wafer的測試需求。Summit系列片上測試探針系統(探針台)可以進行許多種類的測試,如RF測試、微波測試、DC測試、晶圓級可靠性測試、電子測試、模組測試和變形強度等等。SUMMIT系列片上測試探針系統(探針台)使你更加方便選擇需要進行...
低溫真空探針台是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器,於2019年05月08日啟用。技術指標 溫控範圍從 8K-675K(LHe),80K-675K(LN2)、6個測試連線埠、四個獨立的三同 軸低頻探針臂(步進為 12.5 um, 解析度為 6.25 um)、低溫恆溫器系統(振動小於±25nm、漂移小於±60nm)、高效多層熱禁止液氦柔 性...
晶圓測試探針台 晶圓測試探針台是一種用於生物學領域的電子測量儀器,於2016年06月01日啟用。技術指標 適用晶圓尺寸:8英寸、12英寸 溫度範圍:-40℃ ~ 150℃。主要功能 以提供slot 自動比對功能,和PMI(prober mark inspection)針痕自動檢測、自動機械走步。
晶圓探針台 晶圓探針台是一種用於信息科學與系統科學、電子與通信技術領域的分析儀器,於2012年02月03日啟用。技術指標 能夠測試4,5,6,8寸的晶圓。Index精度:±4um。定位速度:254mm/s。主要功能 EG4090是一台高精度的晶圓測試設備,用於自動載入晶圓,定位晶圓並完成晶片和探針卡的連線。
12寸高速矽片自動測試探針台 12寸高速矽片自動測試探針台是一種用於電子與通信技術領域的電子測量儀器,於2012年3月21日啟用。技術指標 12英寸,4組探針。主要功能 固定晶圓配合測試系統測試。
矢量磁場低溫探針台是一種用於信息科學與系統科學、物理學、工程與技術科學基礎學科領域的電子測量儀器,於2019年11月15日啟用。技術指標 溫度範圍:10K-500K; 超導磁體:最大25kOe垂直磁場; 測試頻率≤40GHz。主要功能 用於寬溫區的電測量和電光測量、DC/ RF/ microwave 測量以及多連線埠S參數測量。
晶園分析探針台 晶園分析探針台是一種用於動力與電氣工程領域的電子測量儀器,於2012年5月23日啟用。技術指標 SE-6|| ||*。主要功能 晶片在片測試,負載牽引測試。