低溫探針台

低溫真空探針台可用來測試晶片、晶圓片和封裝器件。套用領域包括半導體、MEMS、超導、鐵電子學、材料科學以及物理和光學等探針可以施加直流、低頻信號，高效率連續流低溫真空系統可使溫度控制在8K 到475K，可施加磁場（電磁鐵）。

基本介紹

• 中文名：低溫探針台
• 產地：中國
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器

技術指標

10~400 K溫度範圍，0~5000 Oe，0~360度轉角控制。

主要功能

低溫真空探針台可用來測試晶片、晶圓片和封裝器件。套用領域包括半導體、MEMS、超導、鐵電子學、材料科學以及物理和光學等探針可以施加直流、低頻信號，高效率連續流低溫真空系統可使溫度控制在8K 到475K，可施加磁場（電磁鐵）。