面內低溫磁場探針台

面內低溫磁場探針台是一種用於材料科學領域的儀器，於2019年11月08日啟用。

基本介紹

• 中文名：面內低溫磁場探針台
• 產地：美國
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2019年11月08日

技術指標

1．溫度範圍5-400 K 2．磁場範圍±6000 Oe 3．直流到射頻測試（20G）。

主要功能

面內低溫磁場探針台可在於真空及變溫條件對材料的自旋霍爾角，阻尼係數，有效場等的測量，可套用ST-FMR技術，二次諧波技術，同時集成了電流驅動磁矩翻轉（switch）的測量。