低溫真空探針台

低溫真空探針台是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器，於2019年05月08日啟用。

基本介紹

• 中文名：低溫真空探針台
• 產地：美國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2019年05月08日
• 所屬類別：物理性能測試儀器 > 光電測量儀器

技術指標

溫控範圍從 8K-675K（LHe），80K-675K（LN2）、6個測試連線埠、四個獨立的三同 軸低頻探針臂（步進為 12.5 um， 解析度為 6.25 um）、低溫恆溫器系統（振動小於±25nm、漂移小於±60nm）、高效多層熱禁止液氦柔 性傳輸管線、Pump station分子泵組（NW40 200-240V 50/60Hz,Pumping speed for N2: 47L/s）。

主要功能

不同溫度下的電輸運性質測試。