低溫閉循環探針台

低溫閉循環探針台是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器，於2016年5月2日啟用。

基本介紹

• 中文名：低溫閉循環探針台
• 產地：中國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2016年5月2日
• 所屬類別：物理性能測試儀器

技術指標

1.溫度極限10k2.真空度1X10-5Pa3.四探針光纖導出。

主要功能

測量極限超低溫半導體材料的電學性質以及光學性質。