6000系列分析探針台

6000系列分析探針台是一種用於信息科學與系統科學、物理學、核科學技術、電子與通信技術領域的分析儀器，於1998年1月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：6000系列分析探針台
• 產地：美國
• 學科領域：信息科學與系統科學、物理學、核科學技術、電子與通信技術
• 啟用日期：1998年1月1日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 電子探針

技術指標

1、測量平台和顯微鏡精密手動控制，亞微米解析度的平台控制。2、平台4×4範圍x-y移動。3、顯微鏡x-y-z移動，1×1×2範圍。4、避光測量。5、平台可加熱至400℃。6、大視角顯示器觀察，失效分析方便、快捷。

主要功能

連線HP4156B半導體參數分析儀進行晶片直流特性測試。