晶圓探針台是一種用於信息科學與系統科學、電子與通信技術領域的分析儀器，於2012年02月03日啟用。
晶圓探針台是一種用於信息科學與系統科學、電子與通信技術領域的分析儀器，於2012年02月03日啟用。技術指標能夠測試4,5,6,8寸的晶圓。Index精度：±4um。定位速度：254mm/s。1主要功能EG4090是一台...
晶圓測試探針台 晶圓測試探針台是一種用於生物學領域的電子測量儀器，於2016年06月01日啟用。技術指標 適用晶圓尺寸：8英寸、12英寸 溫度範圍：-40℃ ～ 150℃。主要功能 以提供slot 自動比對功能，和PMI(prober mark inspection)針痕自動檢測、自動機械走步。
CMOS晶片半自動探針台是一種用於材料科學領域的科學儀器，於2018年12月11日啟用。技術指標 2.1 探針台（針座，探針等），1套 1、手動探針台，寬大的測試空間，能對晶圓、晶片及單器件進行IV/CV及S參數測試 2、載片台直徑：6英寸，平坦度：±5um 3、載片台整體採用氣浮移動方式，快速移動範圍：185×235 mm，...
6寸手動晶圓測試分析型探針機台是一種用於信息科學與系統科學、材料科學領域的工藝試驗儀器，於2015年11月13日啟用。技術指標 5.1.1 X-Y 方向 5.1.1.1 移動範圍 152mm x 152mm (6 in. x 6 in.) 5.1.1.2 解析度 5 mm/轉5.1.1.3 導軌 交叉滾柱5.1.2 Z方向 5.1.2.1 移動範圍 Z方向固定...
探針座：有0.7um、2um、10um精度可選，磁性吸附帶磁力開關 可搭配Probe card測試 適用領域：晶圓廠、研究所、高校等 半自動型 chuck尺寸800mm/600mm X,Y電動移動行程200mm/150mm chuck粗調升降9mm，微調升降16mm 可搭配MITUTOYO金相顯微鏡或者AEC實體顯微鏡 針座擺放個數6～8顆 顯微鏡X-Y-Z移動範圍2"x2"x2...
晶片測試探針台 晶片測試探針台是一種用於材料科學領域的電子測量儀器，於2014年09月30日啟用。技術指標 綜合精度：3.6um適用晶圓尺寸：8英寸、12英寸溫度範圍：常溫 ～ 150℃X/Y軸最大速度：500mm/sec。主要功能 可以提供OCR 標識自動識別，程式控制、自動機械走步，兼容12 英寸/8 英寸晶圓。
積體電路自動測試探針台 積體電路自動測試探針台是一種用於電子與通信技術領域的電子測量儀器，於2013年12月23日啟用。技術指標 最大可測晶圓：12寸。主要功能 對積體電路進行測試。
大功率手動探針台是一種用於物理學、材料科學、動力與電氣工程領域的分析儀器，於2015年12月23日啟用。技術指標 1.可兼顧DCIV/CV測試、RF測試、FA測試、Modeling等不同的測試套用需求。；2最大測試晶圓尺寸：8英寸，可兼顧8英寸以下6、5、4、3英寸晶圓及單個器件或其他材料基片的測試。；3.最高測試電壓能力：三...
低溫真空探針台可用來測試晶片、晶圓片和封裝器件。套用領域包括半導體、MEMS、超導、鐵電子學、材料科學以及物理和光學等探針可以施加直流、低頻信號，高效率連續流低溫真空系統可使溫度控制在8K 到475K，可施加磁場（電磁鐵）。技術指標 10~400 K溫度範圍，0~5000 Oe，0~360度轉角控制。主要功能 低溫真空探針台可用...
微探針台 微探針台是一種用於信息科學與系統科學、電子與通信技術領域的分析儀器，於2013年1月6日啟用。技術指標 扎針pad≥5μm*5μm，晶圓≤8寸，溫度≤200℃，附帶有源探針。主要功能 微探針台系統可以對晶片內部進行切割和扎針，以便進行Debug，進行快速故障定位和排除。
毫米波探針台 毫米波探針台是一種用於電子與通信技術領域的電子測量儀器，於2018年6月28日啟用。技術指標 載片台 直徑≥160 mm 顯微鏡系統 放大倍率500倍 射頻針座 精確度≤±2μm 射頻探針 110GHz。主要功能 用於晶圓或單晶片測試。
高功率探針台 高功率探針台是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2012年07月15日啟用。技術指標 溫度均勻性±0.9℃,溫度範圍25－300℃,溫度精度0.02℃。主要功能 滿足6英寸晶圓的在片測試。
精密變溫分析探針台 精密變溫分析探針台是一種用於電子與通信技術、信息與系統科學相關工程與技術領域的分析儀器，於2019年6月6日啟用。技術指標 8英寸探針台、帶變溫功能，正常測試室溫到150度，包含4個定位器。主要功能 可對8英寸以下晶圓進行在片變溫電學測量。
SMU）* 可配置2~44條源-測量通道 * 兼容所有常用的晶圓探針台 * 支持串列測試和並行測試 * 適用於新興和已成熟的技術 * 集成多個矽單元並行測試的功能 * 兼容JEDEC的全面測試套件 * 實時繪圖和繪製晶圓圖 * 靈活的構架能滿足您不斷變化的測試需求 * 完全自動化的單點和多點測試能力 ...
移動準確度優於2um; Z軸精度優於1um, 重複精度需優於+/-1um, XY軸移動速度優於51mm/ sec 3、和射頻探針搭配可滿足最高達325GHz頻率範圍的晶片或wafer測試要求 4、至少配置3個不同倍率的物鏡，顯微鏡放大倍率不低於400倍。主要功能 採用探針、探卡等連結各中測試設備對8英寸晶圓測試，晶片裸片測試。
探針台系統 探針台系統是一種用於信息與系統科學相關工程與技術領域的電子測量儀器，於2013年06月15日啟用。技術指標 半自動200mm帶Microchamber探針台。主要功能 自動定位樣品，並將電信號引出。
貝克瓦特實驗室擁有自主研發的積體電路工藝和器件仿真、積體電路電路仿真與版圖設計、積體電路封裝設計等先進的輔助設計軟體工具， 並且擁有數十台高性能工作站、微波網路分析儀、超頻寬數字採樣示波器、信號發生器、邏輯分析儀、晶圓探針台、金線球焊機、低溫製冷系統等硬體設備，具備了積體電路從工藝和設計到封裝和測試所需...
+12V Vol=-12~+12V 電流選擇：2組 精度：3mV動態負載：Ioh=-1~-20mA Iol=+1~+20mA 電流選擇：2組 Vout=-2~+8V。主要功能 晶圓測試。本系統由測試儀，探針台和相關的空氣乾燥及淨化設備組成。本系統自動化程度高、速度快、準確性高、穩定性強的優點。可以調用和解析其他廠商通用測試儀的測試程式。
書中詳細介紹了目前業界常見的各類積體電路晶片的測試原理、測試方法以及測試程式的編寫，具體包括各類組合/時序邏輯電路測試、ADC/DAC晶片測試、存儲器/微控制器測試、集成運放/電源管理晶片測試等，同時還介紹了晶圓探針台、測試機的使用。本書可作為高職院校微電子技術專業的核心課程教材，亦可作為全國職業院校技能大賽“...
自動化。晶圓級或晶匣級自動化測試需要控制測試儀器和晶圓探針台，內部構建的測試系統通常無法做到。此外，融合一些高級功能（如條件測試終端）也會給運行這類系統所需的定製軟體增加很大的複雜性。更多的通道數。即使內部構建的系統在開始安裝時工作良好，系統集成設計者也需要增加通道或測試系統的數量以滿足不斷發展的...
