高功率探針台是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2012年07月15日啟用。
基本介紹
- 中文名:高功率探針台
- 產地:德國
- 學科領域:材料科學
- 啟用日期:2012年07月15日
- 所屬類別:分析儀器 > 電子光學儀器 > 電子探針
技術指標,主要功能,
技術指標
溫度均勻性±0.9℃,溫度範圍25-300℃,溫度精度0.02℃。
主要功能
滿足6英寸晶圓的在片測試。
高功率探針台是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2012年07月15日啟用。
高功率探針台是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2012年07月15日啟用。技術指標溫度均勻性±0.9℃,溫度範圍25-300℃,溫度精度0.02℃。1主要功能滿足6英寸晶圓的在片測試。1...
**3、*晶片載台和探針及電纜均採用特殊金屬材料製造,可支持超高功率器件的量測:**4、*三軸模式下最高支持3000V電壓量測,兩軸模式下最高支持10000V電壓量測。**5、*支持最高脈衝電流60A,持續電流10A量測。**6、*支持20。
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