《積體電路晶片測試技術》是2021年4月1日西安電子科技大學出版社出版的圖書，作者是居水榮。
基本介紹
- 中文名：積體電路晶片測試技術
- 作者：居水榮
- 出版社：西安電子科技大學出版社
- 出版時間：2021年4月1日
- 開本：16 開
- ISBN：9787560659541
內容簡介
本書是從微電子產業實際崗位需求出發，結合作者多年企業工作經驗及一線教學經驗編寫而成的。書中詳細介紹了目前業界常見的各類積體電路晶片的測試原理、測試方法以及測試程式的編寫，具體包括各類組合/時序邏輯電路測試、ADC/DAC晶片測試、存儲器/微控制器測試、集成運放/電源管理晶片測試等，同時還介紹了晶圓探針台、測試機的使用。
本書可作為高職院校微電子技術專業的核心課程教材，亦可作為全國職業院校技能大賽“積體電路開發及套用”賽項的備賽訓練參考教材。
