晶片測試探針台

晶片測試探針台是一種用於材料科學領域的電子測量儀器，於2014年09月30日啟用。

基本介紹

• 中文名：晶片測試探針台
• 產地：日本
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2014年09月30日
• 所屬類別：電子測量儀器 > 大規模積體電路測試儀器

技術指標

綜合精度：3.6um適用晶圓尺寸：8英寸、12英寸溫度範圍：常溫 ～ 150℃X/Y軸最大速度：500mm/sec。

主要功能

可以提供OCR 標識自動識別，程式控制、自動機械走步，兼容12 英寸/8 英寸晶圓。