掃描近場光學顯微鏡（scanning near-field optical microscope）是2012年公布的微生物學名詞。
掃描近場光學顯微鏡（scanning near-field optical microscope）是2012年公布的微生物學名詞。定義一類有掃描功能的光學顯微鏡,將探測器放置在離樣品表面大大小於光波波長的距離掃描成像，即...
近場掃描光學顯微鏡是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2017年06月09日啟用。技術指標 正置和倒置光學底座； 掃描範圍：90*90微米； 工作模式：透射、收集、反射、針尖增強拉曼； 光學信號探測模式：光強、螢光、光譜。主要功能...
近場光學掃描顯微鏡 近場光學掃描顯微鏡是一種用於物理學領域的分析儀器，於2010年6月1日啟用。技術指標 測量範圍90μm*90μm，解析度100nm。主要功能 測量微納結構表面近場。
掃描近場顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2014年07月01日啟用。技術指標 1\探針掃描的工作方式和精度 ？ 具有樣品掃描工作模式(即樣品台掃描方式)，探針與樣品間距採用音叉式輕敲方式控制，具有自動進針功能 ？ 樣品台xy調節...
近場光學顯微是由探針在樣品表面逐點掃描和逐點記錄後數字成像的。圖1是一種近場光學顯微鏡的成像原理圖。圖中x-y-z粗逼近方式可以用幾十納米的精度調節探針至樣品的間距；而x-y掃描及z控制可用1nm精度控制探針掃描及z方向的反饋隨...
位移速度最高10mm/s · 樣品Z 軸精細位移台 · Z 軸精細位移行程：3µm · RMS 受限於噪聲的解析度：0.2nm, 1.5-150Hz 樣品X-Y掃描器 · 100µm x 100µm X-Y閉環掃面範圍 · 電容式位置感測器 正置光學顯微鏡 ...
目前，基於隱失場探測的近場掃描光學顯微鏡、近場光譜儀已經在物理、生物、化學、材料科學等領域中得到套用，並且套用範圍正在不斷地擴大；而基於近場光學的其它套用，如納米光刻和超高密度近場光存儲、納米光學元器件、納米尺度粒子的捕獲...
目前得到學術界認可的近場光學顯微鏡是基於掃描探針顯微技術的，將孔徑較小的光纖探針粘附在音叉上，利用音叉感知樣品與探針之間的距離，並對這個距離進行控制，即可同時滿足近場光學顯微鏡兩個要求：小孔和微距。然而，通過上述方法得到近場...
《近場掃描光學顯微鏡光纖探針及其近場光學的研究》是依託中國科學技術大學，由明海擔任項目負責人的面上項目。中文摘要 用局域模理論和實驗上研究了掃描近場光學顯微鏡（SNOM）的傳輸效率與孔徑尺寸，探針形狀，製作方法，照明波長之間關係；...
《掃描近場光學顯微鏡和納米光學測量》是2016年科學出版社出版的圖書，作者是王佳、武曉宇、孫琳。內容簡介 掃描近場光學顯微鏡能夠突破光學衍射極限實現超分辨成像，因此成為納米光學測量中最重要的工具之一。本書首先對近場光學的基本概念和...
近場光學的核心問題是研究隱失場的特徵與探測。掃描近場光學顯微鏡(SN0M或NSOM)根據非輻射場的探測原理，將微小光探針置於隱失場中，以掃描方式獲得局域光的散射、折射、衍射、吸收、偏振、螢光等信息。這樣採集的光學圖像解析度與常規...
1.能夠實現掃描近場光學顯微鏡、原子力顯微鏡的探測、成像，可用於對樣品的微區表面近場光學信息、納米尺度形貌等的檢測以及微納表面結構加工技術研究。 2．具備掃描近場光學顯微鏡的多種工作模式，如：SNOM收集模式和剪下力模式等； 3．...
在近場光學顯微鏡 (或稱掃描近場光學顯微鏡———scanning near2field optical microscopy , SNOM)中 ，傳統光學儀器的鏡頭被細小的光學探針所代替，探針尖端的孔徑遠小於光波長，約幾百至幾十納米。將這樣的微探針深入到物體表面近場...
。主要功能 掃描近場光學顯微鏡基於音叉切變力探測體系，通過直接接近樣品表面的方法對一個亞波長尺度的光圈進行掃描。 主要附屬檔案及功能： Attocube相關係統；位置控制台和基於壓電石英音叉的力學探測器; 強磁場源及Lakeshore磁場控制器。
《用雙色螢光近場顯微技術研究細胞信息的跨膜傳遞》是依託清華大學，由王剛擔任項目負責人的青年科學基金項目。項目摘要 建立一套適合於進行細胞膜信息傳遞功能研究的掃描近場光學顯微鏡，採用雙色螢光探測技術，高速掃描結構及適於在液體環境...
本書是第1卷,涵蓋的範圍包括共聚焦光學顯微鏡、掃描近場光學顯微鏡、各種掃描探針顯微術、離子顯微鏡等,共有10個專題。本書力圖使讀者對所敘述的方法有一個概念上的理解,而不是只停留在對理論的堆砌上。在每一個專題里,都會敘述相關...
因此，若使用距樣本表面僅幾個納米的探針收集並探測近場光信號，可以大幅提高光學顯微鏡的解析度，這種思路導致了近場掃描光學顯微鏡（Near-field Scanning Optical Microscope, NSOM）的誕生，其解析度可以優於25 nm。而基於倏逝場掃描成像...
由於具有高特異性，螢光顯微鏡被廣泛用於分子和細胞生物學的非侵入性、時間分辨成像。儘管有這些優勢，由於光學衍射造成的解析度限制，傳統的螢光顯微鏡已經不適於超微結構成像。有幾種方法已經開始打破這些衍射局限，包括近場掃描光學顯微鏡、多...
技術指標 原子力顯微鏡掃描範圍（100微米*100微米）；掃描精度（0.2納米）；近場光學空間解析度（10-30納米）；中紅外照明單元（9.2微米-10.7微米）。主要功能 表面等離子激元研究、載流子濃度分布成像、聚合物結構與化學分析。
顯微鏡的發展歷史；系統介紹掃描隧道顯微鏡、原子力顯微鏡和掃描近場光學顯微鏡等掃描探針顯微鏡的主要成員；扼要介紹磁力顯微鏡、靜電力顯微鏡等其他類掃描探針顯微鏡；闡述掃描探針顯微鏡使用過程中可能遇到的一些問題及相應的處理方法；論述掃描...
可以將390nm~980nm的飛秒雷射耦合至近場局域進行局域激發，確保800nm的飛秒展寬不超過20%。光學損傷閾值大於等於1GW/cm2。主要功能 實現樣品的表面形貌、光學及其光譜的表征，包括共焦顯微鏡成像，原子力成像和近場掃描光學成像。
多光子掃描顯微鏡 多光子掃描顯微鏡是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2015年12月15日啟用。技術指標 多光子掃描顯微鏡FVMPE-RS。主要功能 多光子掃描顯微鏡。
然後利用原子力顯微鏡、近場掃描光學顯微鏡和光譜儀等手段對製備的負折射率材料進行表征。最後通過近場成像實驗獲得超分辨成像，即空間解析度突破衍射受限的成像。研究內容分為負折射率材料的最佳化設計、製備、表征、及成像四個部分。該方法的...
10.5.3掃描隧道顯微鏡設計的主要考慮因素 10.5.4掃描隧道顯微鏡的新發展與套用 10.6原子力顯微鏡 10.6.1AFM的基本硬體組成 10.6.2AFM的工作原理 10.6.3AFM的工作模式 10.6.4AFM在力學測量中的套用 10.7掃描近場光學顯微鏡 1...
目前實現高空間解析度的光譜與光譜成像的技術分為兩類:1.運用掃描近場光學顯微鏡與近場光譜，將納米尺度微光學探針掃描而同時得到樣品的形貌和微區光譜，空間解析度達幾十納米。2.利用掃描共焦顯微鏡測定光譜，空間解析度受到衍射極限的制約...
將ITO薄膜沉積到光導纖維尖端製作的針尖既可傳輸電子又可同時收集光子，這種針尖廣泛用於光子掃描隧道顯微鏡 (P - STM )和掃描近場光學顯微鏡 (SNOM )實驗。利用 ITO薄膜研製光子STM針尖，該針尖用於STM實驗觀察單個分子在固態表面的形貌...
王佳教授主要感興趣的領域包括：納米光學與近場光學理論與數值仿真、掃描近場光學顯微鏡（SNOM）原理及系統、SNOM在單分子探測（SMD）及生命科學中的套用、近場光學高密度數據存儲、近場光譜學和近場拉曼光譜儀器系統、雷射光鉗與近場光...
由於STM的使用有其局限性，Binnig等人在STM基礎上又研製了原子力顯微鏡(AFM)。AFM檢測針尖和試件之間的吸引或排斥力，所以可用於導體和非導體材料。掃描近場光學顯微鏡(SNOM)是利用被測樣品表面附近近光場的特性，來探測其表面形貌。其分...
