《掃描近場光學顯微鏡和納米光學測量》是2016年科學出版社出版的圖書，作者是王佳、武曉宇、孫琳。
《掃描近場光學顯微鏡和納米光學測量》是2016年科學出版社出版的圖書，作者是王佳、武曉宇、孫琳。內容簡介掃描近場光學顯微鏡能夠突破光學衍射極限實現超分辨成像，因此成為納米光學測量中最重要的工具之一。本書首先對近場光學的基...
近場光學顯微鏡是利用納米量級的高度局域的近場光獲得物體形貌像，它要求採用格線狀逐點掃描技術來獲取樣品的形貌像。在掃描過程中，一個很關鍵的問題是必須使探針與樣品間的距離控制在近場(幾納米至幾十納米)尺度範圍內並保持某一恆定...
掃描近場光學顯微鏡（scanning near-field optical microscope）是2012年公布的微生物學名詞。定義 一類有掃描功能的光學顯微鏡,將探測器放置在離樣品表面大大小於光波波長的距離掃描成像，即可突破遠場的解析度極限，獲得高的空間、譜學及時間...
主要功能 主要功能為材料或微系統的近場光學測試使用。,音叉式掃描，中空探針；光學顯微鏡部分為共焦雙置顯微成像模式；激發方式有,上，下，側向等靈活激發，雷射波長：514nm. 適合用於SPR，納米線、量子點等近場材料的表征及測試。
近場掃描光學顯微鏡是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2017年06月09日啟用。技術指標 正置和倒置光學底座； 掃描範圍：90*90微米； 工作模式：透射、收集、反射、針尖增強拉曼； 光學信號探測模式：光強、螢光、光譜。主要功能...
目前，基於隱失場探測的近場掃描光學顯微鏡、近場光譜儀已經在物理、生物、化學、材料科學等領域中得到套用，並且套用範圍正在不斷地擴大；而基於近場光學的其它套用，如納米光刻和超高密度近場光存儲、納米光學元器件、納米尺度粒子的捕獲...
位移速度最高10mm/s · 樣品Z 軸精細位移台 · Z 軸精細位移行程：3µm · RMS 受限於噪聲的解析度：0.2nm, 1.5-150Hz 樣品X-Y掃描器 · 100µm x 100µm X-Y閉環掃面範圍 · 電容式位置感測器 正置光學顯微鏡 ...
近場光學掃描顯微鏡 近場光學掃描顯微鏡是一種用於物理學領域的分析儀器，於2010年6月1日啟用。技術指標 測量範圍90μm*90μm，解析度100nm。主要功能 測量微納結構表面近場。
目前得到學術界認可的近場光學顯微鏡是基於掃描探針顯微技術的，將孔徑較小的光纖探針粘附在音叉上，利用音叉感知樣品與探針之間的距離，並對這個距離進行控制，即可同時滿足近場光學顯微鏡兩個要求：小孔和微距。然而，通過上述方法得到近場...
在近場光學顯微鏡 (或稱掃描近場光學顯微鏡———scanning near2field optical microscopy , SNOM)中 ，傳統光學儀器的鏡頭被細小的光學探針所代替，探針尖端的孔徑遠小於光波長，約幾百至幾十納米。將這樣的微探針深入到物體表面近場...
5.4 近場光學探測技術 （252）5.4.1 近場光學原理 （252）5.4.2 光子隧道理論 （256）5.4.3 近場探測技術 （258）5.4.4 近場掃描光學顯微鏡的套用 （261）5.4.5 其他的納米級測試方法 （266）5.5 光納米感測技術的...
王佳教授主要感興趣的領域包括：納米光學與近場光學理論與數值仿真、掃描近場光學顯微鏡（SNOM）原理及系統、SNOM在單分子探測（SMD）及生命科學中的套用、近場光學高密度數據存儲、近場光譜學和近場拉曼光譜儀器系統、雷射光鉗與近場光...
8.5 雷射共焦掃描顯微技術 8.5.1 雷射共焦掃描顯微技術原理 8.5.2 雷射共焦掃描顯微技術的套用 8.6 納米技術中的光電測試技術 8.6.1 掃描隧道顯微鏡（STM）8.6.2 掃描近場光學顯微鏡（SNOM）8.6.3 光子掃描隧道顯微鏡（PS...
