近場光學掃描顯微鏡

近場光學掃描顯微鏡

近場光學掃描顯微鏡是一種用於物理學領域的分析儀器,於2010年6月1日啟用。

基本介紹

  • 中文名:近場光學掃描顯微鏡
  • 產地:俄羅斯聯邦
  • 學科領域:物理學
  • 啟用日期:2010年6月1日
  • 所屬類別:分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 光學顯微鏡
技術指標,主要功能,

技術指標

測量範圍90μm*90μm,解析度100nm。

主要功能

測量微納結構表面近場。

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