近場光學掃描系統是一種用於材料科學領域的儀器,於2015年09月04日啟用。
基本介紹
- 中文名:近場光學掃描系統
- 產地:其他
- 學科領域:材料科學
- 啟用日期:2015年09月04日
近場光學掃描系統是一種用於材料科學領域的儀器,於2015年09月04日啟用。
近場光學掃描系統是一種用於材料科學領域的儀器,於2015年09月04日啟用。技術指標技術指標: 品牌/型號:德國Attocube System AG; 具體指標:Vibration isolation system fo...
基於近場光學技術的光學解析度可以達到納米量級,突破了傳統光學的解析度衍射極限,這將為科學研究的諸多領域,尤其是納米科技的發展提供有力的操作、測量方法和儀器系統。目前,基於隱失場探測的近場掃描光學顯微鏡、近場光譜儀已經在物理、...
近場光學測試系統 近場光學測試系統是一種用於物理學領域的分析儀器,於2009年03月10日啟用。技術指標 AFM表征橫向解析度為25nm;近場表征橫向解析度為50nm。主要功能 用於表征樣品表面的近場分布。
《近場掃描光學顯微鏡光纖探針及其近場光學的研究》是依託中國科學技術大學,由明海擔任項目負責人的面上項目。中文摘要 用局域模理論和實驗上研究了掃描近場光學顯微鏡(SNOM)的傳輸效率與孔徑尺寸,探針形狀,製作方法,照明波長之間關係;...
近場掃描分系統 近場掃描分系統是一種用於化學領域的分析儀器,於2016年12月1日啟用。技術指標 0.5-40GHz。主要功能 近場掃描分系統。
近場掃描光學顯微鏡是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於2017年06月09日啟用。技術指標 正置和倒置光學底座; 掃描範圍:90*90微米; 工作模式:透射、收集、反射、針尖增強拉曼; 光學信號探測模式:光強、螢光、光譜。主要功能...
近場掃描光學顯微術(near-field scanning optical microscopy)是2018年公布的生物物理學名詞。定義 將尖銳的其中心既是發射又是接收光的光導纖維的錐形探針置於樣品表面非常近的距離(小於光的波長),接收從樣品反射的隱失波以獲得小于波長...
近場顯微光譜系統是一種用於物理學領域的分析儀器,於2012年12月15日啟用。技術指標 掃描範圍z20um,解析度小於0.5nm,x,y方向優於70um,定位解析度小於5nm,最大樣品大小直徑大於120mm,樣品粗調不小於20mm用於飛秒的探針空間解析度優...
在近場光學顯微鏡 (或稱掃描近場光學顯微鏡———scanning near2field optical microscopy , SNOM)中 ,傳統光學儀器的鏡頭被細小的光學探針所代替,探針尖端的孔徑遠小於光波長,約幾百至幾十納米。將這樣的微探針深入到物體表面近場...