近場掃描分系統是一種用於化學領域的分析儀器，於2016年12月1日啟用。
基本介紹
- 中文名：近場掃描分系統
- 產地：中國
- 學科領域：化學
- 啟用日期：2016年12月1日
- 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器
技術指標,主要功能,
技術指標
0.5-40GHz。
主要功能
近場掃描分系統。
近場掃描分系統是一種用於化學領域的分析儀器，於2016年12月1日啟用。
近場掃描分系統是一種用於化學領域的分析儀器，於2016年12月1日啟用。技術指標0.5-40GHz。1主要功能近場掃描分系統。1...
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多探頭天線近場測量系統是一種用於信息科學與系統科學領域的儀器，於2013年10月29日啟用。技術指標 系統支持直徑不大於45厘米的天線測試； 測試轉台承重不得小於10kg； 支持天線遠、近場電子掃描測試，提供Phi切面的實時2D數據顯示； 水平...
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