多探頭天線近場測量系統

多探頭天線近場測量系統是一種用於信息科學與系統科學領域的儀器，於2013年10月29日啟用。

基本介紹

• 中文名：多探頭天線近場測量系統
• 產地：中國
• 學科領域：信息科學與系統科學
• 啟用日期：2013年10月29日

技術指標

系統支持直徑不大於45厘米的天線測試； 測試轉台承重不得小於10kg； 支持天線遠、近場電子掃描測試，提供Phi切面的實時2D數據顯示； 水平轉台精度0.02°； 水平轉台速度50°/秒； 方位角精度0.01°； 系統動態範圍不小於50 dB； 天線增益（10 dBi）精度 系統峰值增益測量精度（dB）:0.8GHz–1GHz不大於±1.10dB;其他頻率不大於±0.80dB 天線增益（10 dBi）系統可重複性（dB）:工作頻率不大於±0.30dB 天線增益（10 dBi）旁瓣精度:0.8GHz – 1GHz不大於±1.10dB；其他頻率不大於±0.90dB 測量速度：對於0.45厘米口徑的天線，在2GHz的點頻以單頻測試時，測試一個球面方向圖（含極化性能）的時間小於1分鐘；多頻測量時測試時間不應大幅增加。待測天線口徑：小於或等於45cm； 網路分析儀及校準件:測試連線埠處＞123dB（典型值）；全雙連線埠校準時為41ms，1601點；點頻率範圍：9KHz-8.5GHz；。

主要功能

具備天線增益測量功能，可測量低增益、中增益、高增益的各類天線； 系統採用多探頭電子掃描測試方法進行3D測試； 系統支持天線性能測試； 系統軟體具備測量參數設定、測量數據的監視、數據處理、數據提取、數據追蹤、數據傳輸、數據儲存和數據列印等功能；。