近場顯微光譜系統是一種用於物理學領域的分析儀器，於2012年12月15日啟用。
基本介紹
- 中文名：近場顯微光譜系統
- 產地：德國
- 學科領域：物理學
- 啟用日期：2012年12月15日
- 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡
技術指標,主要功能,
技術指標
掃描範圍z20um,解析度小於0.5nm，x，y方向優於70um，定位解析度小於5nm，最大樣品大小直徑大於120mm，樣品粗調不小於20mm用於飛秒的探針空間解析度優於100nm，可以將390nm~980nm的飛秒雷射耦合至近場局域進行局域激發，確保800nm的飛秒展寬不超過20%。光學損傷閾值大於等於1GW/cm2。
主要功能
實現樣品的表面形貌、光學及其光譜的表征，包括共焦顯微鏡成像，原子力成像和近場掃描光學成像。
