近場掃描光學顯微鏡

近場掃描光學顯微鏡是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2017年06月09日啟用。

基本介紹

• 中文名：近場掃描光學顯微鏡
• 產地：俄羅斯聯邦
• 學科領域：物理學、材料科學
• 啟用日期：2017年06月09日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡

技術指標

正置府戀探辣和倒置光學底座； 掃描範圍辨店潤：90*90微米； 工作模式：透射、收集、反射、針尖增強拉曼； 光學信牛碑朵戶號探測模式：光強、螢光、光譜辨企欠。

主要功能

表面形貌、電學性質、磁學性質、近場光學性邀料擊駝剃質、懂朽葛力學性質、納米刻蝕及操縱、定性鑑定、空間結構、應力分布等。