近場掃描顯微鏡

近場掃描顯微鏡是一種用於物理學領域的計量儀器，於2016年05月12日啟用。

基本介紹

• 中文名：近場掃描顯微鏡
• 產地：以色列
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2016年05月12日
• 所屬類別：計量儀器 > 電磁學計量儀器 > 超導強磁場標準

技術指標

三維光學掃描，掃描台100*100微米，光學解析度50納米。

主要功能

近場光學成像、原子力顯微。