超快共焦掃描近場顯微鏡是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2014年12月12日啟用。
基本介紹
- 中文名：超快共焦掃描近場顯微鏡
- 產地：德國
- 學科領域：物理學、材料科學
- 啟用日期：2014年12月12日
- 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡
技術指標,主要功能,
技術指標
光譜儀：300mm焦距，f/4；通光量 70％；600g/mm和1800g/mm光柵.x、y、z方向自動樣品定位最大樣品高度：10mm（對於更高的樣品可以選擇相應配件），PZT掃描台，掃描範圍200x200x2um;掃描準確度4x4x0.5nm; 線性度好於0.02%.大範圍移動成像平台，X方向最大為20mm，Y方向為25mm；光學解析度：200nm(橫向)，500nm(垂直方向)。基於Zeiss顯微鏡的共焦拉曼顯微鏡，空間解析度可達200nm。
主要功能
主要用於表面樣品的顯微鏡下原位AFM,SNOM,CONFOCAL的光譜測量及成像；新納米尺度光學、電學、力學高分辨檢測研究；拓撲絕緣體/複雜氧化物/單分子等量子器件的表面分析；DNA測序研究中光學原位信號快速讀取；單根納米線、量子點、生物單分子器件動力學過程的瞬態光譜成像研究等。
