X衍射分析儀

X衍射分析儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2002年11月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：X衍射分析儀
• 產地：荷蘭
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2002年11月1日
• 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀

技術指標

測角儀精度0.0001°，角度重現性0.0001°，角範圍0-167°，測角儀半徑240mm。

主要功能

X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測定物質的晶體結構，織構及應力，精確的進行物相分析，定性分析，定量分析。