X衍射儀

X衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2013年3月1日啟用。

基本介紹

  • 中文名:X衍射儀
  • 產地:荷蘭
  • 學科領域:材料科學
  • 啟用日期:2013年3月1日
  • 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀
技術指標,主要功能,

技術指標

角度重現性,±0.0001o;測角準確度斷戀慨,籃歡匪甩0.0025o;探測器最姜嫌兵燥大技術率,>4×106 cps;99%線性範圍,>106 cps;最小背景,<0.2 cps;小角粒度奔項察測量範圍,(0~300)nm。

主要功能

可進行粉末及薄膜樣品的晶體結構分析,物相鑑定(立炒鍵物相定性、定量分析),相變分析,結晶度測定等。此外,想民放還可進行小角散射納米粒和捉度測定、應力測定、織構測定等。

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