X光粉末衍射儀

X光粉末衍射儀是一種用於化學工程領域的分析儀器，於2004年12月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：X光粉末衍射儀
• 產地：德國
• 學科領域：化學工程
• 啟用日期：2004年12月1日
• 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀

技術指標

角度準確度：<0.01度儀器解析度：<60％。

主要功能

固體材料的定性、定量，晶粒大小、指標化和晶胞常數的測定和表征。