X射線光電子能譜分析儀

X射線光電子能譜分析儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2015年3月31日啟用。

基本介紹

• 中文名：X射線光電子能譜分析儀
• 產地：日本
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2015年3月31日
• 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線能譜儀

技術指標

Ultimate energy resolution on Ag FWHM≤0.5 eV；XPS energy resolution on PET FWHM≤0.85eV。

主要功能

主要用於對樣品表面進行元素種類測定、夜舟轎嬸同種元素不同化學狀態定性及定量分析等方面的表征甩再駝。XPS的工作原理是用光子能量在1000～1500ev之間X射線去輻射樣品，使原子或分子的內白櫻影碑層電子或價電子受激發射出來成為光電子，測量光電子的能量，以光拳鞏殃電子的動能/束縛能地犁binding energy,(Eb=hv光能量-Ek動能-w功函式)為橫坐標，相對強度（脈衝/s）為縱坐標灑榜試可做挨鞏祝出光電子能譜圖，從而獲得試樣表面化學狀態的有關信息。