掃描微區X射線光電子能譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2012年5月3日啟用。
X射線光電子能譜分析儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2015年3月31日啟用。技術指標 Ultimate energy resolution on Ag FWHM≤0.5 eV；XPS energy resolution on PET FWHM≤0.85eV。主要功能 主要用於對樣品表面進行元素種類測定...
能譜儀(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。原理 各種元素具有自己的X射線特徵波長，特徵波長的大小則取決於能級躍遷過程中釋放出的特徵能量△E，能譜儀...
電子能量分析器是X射線光電子能譜儀的關鍵組成部分。它的作用是測量電子能量分布和不同能量電子的相對強度。電子能量分析器和電子倍增器系統完全由微型電子計算機控制。套用 概述 對固體樣品的元素成分進行定性、定量或半定量及價態分析。
根據光源的不同,光電子能譜可分為:1、紫外光電子能譜UPS(Ultroviolet Photoelectron Spectrometer);2、X射線光電子能譜XPS(X-Ray Photoelectron Spectrometer )3、俄歇電子能譜AES(Auger Electron Spectrometer)。
AES的電子槍。電子槍的關鍵部件是電子源及用於電子束聚焦、整形和掃描的透鏡組。電子源可以是熱電子發射體或冷場發射體；透鏡組可以是靜電型的，或用於高解析度的電磁型的。21世紀初期，在AES能譜儀中，電磁透鏡和冷場發射電子源的結合...
0330 X射線能譜儀 當已知能量的X射線照射氣體或晶體固體時，由於光電效應，電子被打出外部；光電子能譜法，就是分析這種電子的動能，即光電子能譜而求出分子或晶體內電子結合能而鑑定物質元素的方法。原子內殼層的能級因化學結合狀態（...
在與西格巴恩的合作下，美國惠普公司於1969年製造了世界上首台商業單色X射線光電子能譜儀。1981年西格巴恩獲得諾貝爾物理學獎，以表彰他將XPS發展為一個重要分析技術所作出的傑出貢獻。XPS的物理原理 XPS的原理為利用X射線照射樣品，激發...
把電子束沿著指定的方向作直線軌跡掃描，便可得到這一元素沿直線的濃度分布情況。改變位置可得到另一元素的濃度分布情況。面分析 電子束在樣品表面作光柵掃描，將譜儀（波、能）固定在所要測量的某一元素特徵X射線信號（波長或能量）的...
包括大面積XPS（0.8×2 mm），微區XPS（最小選區15 μm）、深度剖析XPS及XPS成像，空間解析度＜3 μm；場發射俄歇電子能譜（AES），包括深度剖析AES；掃描俄歇顯微成像（SAM）；紫外光電子能譜（UPS）等。
原位X射線光電子能譜儀是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器，於2012年11月26日啟用。技術指標 單色化Al KX射線源/He電漿光源，能量分析器能量解析度≤2meV.能量測量範圍： 0.5eV～1500eV，原位有機薄膜蒸鍍系統...
該圖書館於1997年聯網建立了圖書館區域網路，1998年建立了電子閱覽室，1999年4月實現了圖書館管理計算機化；並訂購了ACS、RSC、Elsevier、Springer、AIP/APS、清華同方、萬方、維普等中外文全文資料庫，及SciFinder、Reaxys、Web of Science...
陸續配置了掃描電子顯微鏡、X射線能譜儀、X射線衍射儀、電化學綜合測試系統、納米力學綜合測試系統、原子力顯微鏡、X射線光電子能譜儀、微型二次離子質譜儀、紅外吸收光譜儀、金相顯微鏡、大載荷劃痕儀、X射線螢光測厚儀、輪廓儀、色差儀...
