X射線光電子能譜小面積分析法（small area analysis by X-ray photoelectron spectroscopy）是2016年全國科學技術名詞審定委員會公布的化學名詞。
X射線光電子能譜小面積分析法（small area analysis by X-ray photoelectron spectroscopy）是2016年全國科學技術名詞審定委員會公布的化學名詞。定義 通過降低能量分析器輸入透鏡光闌或縮小入射X射線束徑，只接收樣品表面小面積出射的光...
《X射線光電子能譜分析方法通則(GB/T 19500-2004)》提出單位：全國微束分析標準化委員會。本標準歸口單位：全國微束分析標準化委員會。本標準負責起草單位：北京大學化學與分子工程學院。本標準主要起草人：黃惠忠。本標準參加起草人：...
1 元素的定性分析。可以根據能譜圖中出現的特徵譜線的位置鑑定除H、He以外的所有元素。2 元素的定量分析。根據能譜圖光電子譜線強度(光電子峰的面積)反映原子的含量或相對濃度。3 固體表面分析。包括表面的化學組成或元素組成，原子價...
X射線光電子能譜分析儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2015年3月31日啟用。技術指標 Ultimate energy resolution on Ag FWHM≤0.5 eV；XPS energy resolution on PET FWHM≤0.85eV。主要功能 主要用於對樣品表面進行元素種類測定...
樣品室內的樣品架安裝有傳動機構，不但可以做x，y和z三個互相垂直方向的移動。還可沿某一坐標軸作一定角度的旋轉。這樣便於觀察分析研究樣品不同部位的情況。電子能量分析器是X射線光電子能譜儀的關鍵組成部分。它的作用是測量電子能量...
XPS：固體樣品的表面組成分析，化學狀態分析，取樣訊息深度為～10nm以內. 功能包括:1. 表面定性與定量分析. 可得到小於10um 空間解析度的X射線光電子能譜的全譜資訊。2. 維持10um以下的空間解析度元素成分包括化學態的深度分析（角分辨...
單色X射線源及無油真空系統，解析度和靈敏度都較高。除常規功能外，還具有離子蝕刻、XPS成象、小面積XPS等功能，更適於生物質高分子有機物。主要套用 在材料、有機化學、農業、林業、石油化工、機械工程、航天、航空、電子、生物等領域...
X射線光電子能譜學（英文：X-ray photoelectron spectroscopy，簡稱XPS）XPS主要套用是測定電子的結合能來鑑定樣品表面的化學性質及組成的分析，其特點在光電子來自表面10nm以內，僅帶出表面的化學信息，具有分析區域小、分析深度淺和不破壞...
檢查X射線光電子能譜儀工作特性的標準方法 《檢查X射線光電子能譜儀工作特性的標準方法》是1996年11月1日實施的一項行業標準。備案信息 備案號：98-1997
此後，隨著X射線螢光分析理論和方法的逐漸開拓和完善、儀器的自動化和計算機水平的迅速提高，60年代本法在常規分析上的重要性已充分顯示出來。70年代以後，又按激發、色散和探測方法的不同，發展成為X射線光譜法（波長色散）和X射線能譜...
6. 帶有紫外光電子能譜功能，當能量解析度為100meV時，靈敏度可達1,000,000cps。主要功能 X射線光電子能譜儀可提供富有特色的表面分析手段。主要可用來對材料表面10nm範圍內的元素及元素的化學態進行定性定量表征，並通過深度剖析的方法...
本X射線光電子能譜儀測試系統為帶有多種功能的綜合性光電子能譜分析平台。該系統可在極高真空下，通過配備的X射線光源以及紫外光源，在樣品表面激發光電子，再通過高精度探測器捕獲分析，得到相應的光電子能譜。可用於目標樣品的元素組成...
掃描微區X射線光電子能譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2012年5月3日啟用。技術指標 可用於測定聚合物、金屬及無機非金屬材料表面微區（微米級）界面性質的表征及整體較大尺寸構件的大面積結構性能。主要功能 樣品表面元素組成...
1.8.4毛細管凝膠電泳在高分子材料分析中的套用88 1.9X射線分析89 1.9.1X射線概述89 1.9.2X射線衍射分析90 1.9.3小角X射線散射97 1.10X射線光電子能譜法99 1.10.1X射線光電子能譜的基本原理100 1.10.2實驗技術101 1...
光電子能譜儀主要由6個部分組成：激發源、樣品電離室、電子能量分析器、電子檢測器、真空系統和數據處理系統等組成。激發源常用紫外輻射源和 X射線源。使用紫外輻射源作為激發源的稱為紫外光電子能譜,使用X射線的稱為X 射線光電子能譜...
角分辨X射線光電子能譜儀是一種用於材料科學、化學、物理學、化學工程領域的分析儀器，於2016年12月29日啟用。技術指標 單色化Al靶、雙陽極Al/Mg靶、功率大於等於500W； 超高真空系統，樣品分析室真空優於5*10^-10 Torr； 能量分辨...
1960年以前，所有對於光電子的動能的分析實際上都是針對金屬和其它固體表面出射的光電子的。1956年左右凱·西格巴恩建立了固體表面分析的X射線光電子能譜學（XPS）方法。該方法用X射線源來研究原子的內層電子（core electron）的能量，其...
《表面化學分析—X射線光電子能譜—薄膜分析結果的報告》是2019年5月1日實施的一項中國國家標準。編制進程 2018年6月7日，《表面化學分析—X射線光電子能譜—薄膜分析結果的報告》發布。2019年5月1日，《表面化學分析—X射線光電子能...
X射線光電子能譜[學]X射線光電子能譜[學]（X-ray photoelectron spectroscopy）是1993年公布的電子學名詞。公布時間 1993年，經全國科學技術名詞審定委員會審定發布。出處 《電子學名詞》第一版。
近常壓x射線光電子能譜是一種用於物理學、化學領域的分析儀器，於2017年12月1日啟用。技術指標 EnviroESCA是一台能原位監測樣品表面性質動態變化的XPS儀器。其能量分析器的半徑為150mm，型號為SPECS PHOIBOS EP，採用單色化的鋁Kα作為...
7.4 X射線光電子能譜分析 7.4.1 X射線光電子能譜的基本原理 7.4.2 X射線光電子能譜儀的結構 7.4.3 X射線光電子能譜分析的特點 7.4.4 X射線光電子能譜分析的套用 7.5穆斯堡爾譜分析 7.5.1穆斯堡爾效應 7.5.2穆...
6.3 X射線顯微分析 第7章 X射線光電子能譜分析 7.1 X射線光電子能譜分析的基本原理 7.2 光電子能譜實驗技術 7.3 X射線光電子能譜的套用 第8章 材料熱分析 8.1 熱分析技術的概述 8.2 熱重分析法 8.3 差熱分析法(DTA...
