《材料結構表征及套用》是2004年化學工業出版社出版的圖書，作者是吳剛 。
基本介紹
- 書名：材料結構表征及套用
- 作者：吳剛
- 出版社：化學工業出版社
- 出版時間：2004年02月
內容提要：,圖書目錄：,編輯推薦與評論：,
百科名片
作/譯者：吳剛 出版社：化學工業出版社
出版日期：2004年02月
ISBN：9787502533403 [十位:7502533400]
頁數：462 重約：0.590KG
定價：￥39.00
內容提要：
本書為高校教材,介紹金屬、非金屬、高分子3大材料的結構表征、性能測試。主要包括紅外光譜及雷射拉曼光譜、核磁共振譜、質譜、X射線光電子能譜分析等。
圖書目錄：
第1章 緒論
1.1 材料結構與材料性能的關係
1.2 材料結構表征的基本方法
第2章 紅外光譜及雷射拉曼光譜
2.1 紅外光譜的基本原理
2.2 紅外光譜與分子結構
2.3 紅外光譜圖的解析方法
2.4 紅外光譜儀及制樣技術
2.5 紅外光譜在材料研究領域中的套用
2.6 紅外光譜新技術及其套用
2.7 雷射拉曼光譜
第3章 核磁共振波譜
3.1 核磁共振的基本原理和譜線的精細結構
3.2 脈衝傅立葉變換核磁共振實驗
3.3 二維核磁共振波譜
3.4 高分辨固體核磁共振
3.5 核磁共振在材料科學研究中的套用
第4章 質譜
4.1 質譜的基本知識
4.2 離子的主要類型
4.3 質譜碎裂的一般機制
4.4 質譜的輔助技術
4.5 質譜的的套用
第5章 X射線衍射分析
5.1 X射線的產生及其性質
5.2 X射線衍射原理
5.3 X射線衍射分析方法
5.4 粉晶X射線物相分析
5.5 一些X射線衍射分析方法的套用
第6章 電子顯微技術
6.1 透射電子顯微鏡
6.2 掃描電子顯微鏡(SEM)
6.3 X射線顯微分析
第7章 X射線光電子能譜分析
7.1 X射線光電子能譜分析的基本原理
7.2 光電子能譜實驗技術
7.3 X射線光電子能譜的套用
第8章 材料熱分析
8.1 熱分析技術的概述
8.2 熱重分析法
8.3 差熱分析法(DTA)
8.4 示差掃描量熱分析法
8.5 動態熱機械分析
8.6 熱分析技術的發展趨勢及一些先進技術介紹
編輯推薦與評論：
本書主要介紹了紅外光譜及雷射喇曼光譜、核磁共振譜、質譜、X射線衍射分析、電子顯微技術、X射線光電子能譜分析、材料熱分析、材料熱分析,並附有原子的弛豫能量表、元素的遇負性表、元素的有分析意義的俄歇線、電子結合能標示元素表、順磁態與逆磁態離子、原子靈敏度因子,表面分析用元素周期表等。
本教材可供有關專業的本科生、研究生、教師和科研人員參考。
