x射線光電子譜是一種用於數學領域的分析儀器,於2008年12月1日啟用。
基本介紹
- 中文名:x射線光電子譜
- 產地:中國
- 學科領域:數學
- 啟用日期:2008年12月1日
- 所屬類別:分析儀器 > 電子光學儀器 > 電子能譜儀
x射線光電子譜是一種用於數學領域的分析儀器,於2008年12月1日啟用。
X射線光電子能譜技術(XPS)是電子材料與元器件顯微分析中的一種先進分析技術,而且是和俄歇電子能譜技術(AES)常常配合使用的分析技術。由於它可以比俄歇電子能譜技術更準確地測量原子的內層電子束縛能及其化學位移,所以它不但為化學...
x射線光電子譜是一種用於數學領域的分析儀器,於2008年12月1日啟用。技術指標 真空度5×10^(-8) PaX射線源射線能量:1486.6 eV (Al Kα line), 1253.6 eV (Mg Kα line);能量半高寬:0.85 eV (Al Kα line), 0....
1. 表面定性與定量分析. 可得到小於10um 空間解析度的X射線光電子能譜的全譜資訊。2. 維持10um以下的空間解析度元素成分包括化學態的深度分析(角分辨方式,,氬離子或團簇離子刻蝕方式)3. 線掃描或面掃描以得到線或面上的元素或化學...
X射線光電子能譜分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射線去輻射樣品,使原子或分子的內層電子或價電子受激發射出來。被光子激發出來的電子稱為光電子,可以測量光電子的能量,以光電子的動能為橫坐標,相對強度(脈衝/s)...
XPS(X射線光電子能譜)的原理是用X射線去輻射樣品,使原子或分子的內層電子或價電子受激發射出來。被光子激發出來的電子稱為光電子。可以測量光電子的能量,以光電子的動能為橫坐標,相對強度(脈衝/s)為縱坐標可做出光電子能譜圖。從而...
X射線光電子譜儀是一種用於化學、機械工程、材料科學、能源科學技術領域的分析儀器,於2016年11月10日啟用。技術指標 1、能量掃描範圍:1~4000 eV 2、最佳能量解析度:≤0.45 eV(XPS),100 meV(UPS) 3、最佳空間解析度:≤3 ...
X射線光電子能譜[學]X射線光電子能譜[學](X-ray photoelectron spectroscopy)是1993年公布的電子學名詞。公布時間 1993年,經全國科學技術名詞審定委員會審定發布。出處 《電子學名詞》第一版。
《X射線光電子能譜分析方法通則(GB/T 19500-2004)》提出單位:全國微束分析標準化委員會。本標準歸口單位:全國微束分析標準化委員會。本標準負責起草單位:北京大學化學與分子工程學院。本標準主要起草人:黃惠忠。本標準參加起草人:...
X射線光電子能譜學(英文:X-ray photoelectron spectroscopy,簡稱XPS)XPS主要套用是測定電子的結合能來鑑定樣品表面的化學性質及組成的分析,其特點在光電子來自表面10nm以內,僅帶出表面的化學信息,具有分析區域小、分析深度淺和不破壞...
X射線光電子能譜分析儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2015年3月31日啟用。技術指標 Ultimate energy resolution on Ag FWHM≤0.5 eV;XPS energy resolution on PET FWHM≤0.85eV。主要功能 主要用於對樣品表面進行元素種類測定...
X射線光電子譜和二次中性粒子質譜聯合系統是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器,於2018年9月13日啟用。技術指標 主要技術指標,具體請聯繫廣西大學相關管理人。主要功能 射線光電子譜和二次中性粒子質譜。
本X射線光電子能譜儀測試系統為帶有多種功能的綜合性光電子能譜分析平台。該系統可在極高真空下,通過配備的X射線光源以及紫外光源,在樣品表面激發光電子,再通過高精度探測器捕獲分析,得到相應的光電子能譜。可用於目標樣品的元素組成...
近常壓X射線光電子譜是一種用於信息與系統科學相關工程與技術領域的核儀器,於2018年1月16日啟用。技術指標 1、極限真空:5*10-10mbar2、工作氣壓範圍:UHV-25mbar3、變溫範圍:RT-1200℃ in UHV and 25 mbar。主要功能 可以利用...
原位X射線光電子能譜儀是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器,於2012年11月26日啟用。技術指標 單色化Al KX射線源/He電漿光源,能量分析器能量解析度≤2meV.能量測量範圍: 0.5eV~1500eV,原位有機薄膜蒸鍍系統...
X射線光電子能譜小面積分析法(small area analysis by X-ray photoelectron spectroscopy)是2016年全國科學技術名詞審定委員會公布的化學名詞。定義 通過降低能量分析器輸入透鏡光闌或縮小入射X射線束徑,只接收樣品表面小面積出射的光...
X射線光電子能譜及俄歇電子能譜聯用儀 X射線光電子能譜及俄歇電子能譜聯用儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器,於2012年1月4日啟用。技術指標 能量範圍:0-5000ev,解析度0.45ev。主要功能 表面及界面分析,。
多功能X射線光電子能譜儀是一種用於物理學、生物學、基礎醫學、臨床醫學領域的分析儀器,於2018年1月22日啟用。技術指標 1. 分析室真空度:5×10-10 mbar 2. 最佳能量解析度:0.43eV 3. 最小空間解析度:1μm4. Ag的3d5/2...
掃描微區X射線光電子能譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2012年5月3日啟用。技術指標 可用於測定聚合物、金屬及無機非金屬材料表面微區(微米級)界面性質的表征及整體較大尺寸構件的大面積結構性能。主要功能 樣品表面元素組成...
根據光源的不同,光電子能譜可分為:1、紫外光電子能譜UPS(Ultroviolet Photoelectron Spectrometer);2、X射線光電子能譜XPS(X-Ray Photoelectron Spectrometer )3、俄歇電子能譜AES(Auger Electron Spectrometer)。X射線光電子能譜法...
近常壓x射線光電子能譜是一種用於物理學、化學領域的分析儀器,於2017年12月1日啟用。技術指標 EnviroESCA是一台能原位監測樣品表面性質動態變化的XPS儀器。其能量分析器的半徑為150mm,型號為SPECS PHOIBOS EP,採用單色化的鋁Kα作為...
檢查X射線光電子能譜儀工作特性的標準方法 《檢查X射線光電子能譜儀工作特性的標準方法》是1996年11月1日實施的一項行業標準。備案信息 備案號:98-1997
角分辨X射線光電子能譜儀是一種用於材料科學、化學、物理學、化學工程領域的分析儀器,於2016年12月29日啟用。技術指標 單色化Al靶、雙陽極Al/Mg靶、功率大於等於500W; 超高真空系統,樣品分析室真空優於5*10^-10 Torr; 能量分辨...